Научно-исследовательский семинар: рентгеновский и электронно-микроскопический практикумы

2022/2023

Учебный год

RUS

Обучение ведется на русском языке

3

Кредиты

Кто читает:

Базовая кафедра физики конденсированных сред Института физики твердого тела РАН

Статус:

Курс по выбору

Когда читается:

3-й курс, 2 модуль

Преподаватель

Рыбченко Оксана Геннадьевна

Программа дисциплины

Аннотация

Целями освоения дисциплины являются: • практическое ознакомление с аппаратами, используемыми для ренгеноструктурного анализа, просвечивающей и сканирующей микроскопии; • освоение базовых методик определения структуры материала, фазового состава многофазного образца, работы с монокристаллами (определение монокристалличности, ориентации, наличия двойников); • знакомство со структурными базами данных и программами, используемыми в структурном анализе; • ознакомление с основными методами подготовки образцов для ЭМ-исследований, а также определения элементного состава материала.

Цель освоения дисциплины

• практическое ознакомление с аппаратами, используемыми для ренгеноструктурного анализа, просвечивающей и сканирующей микроскопии;
• освоение базовых методик определения структуры материала, фазового состава многофазного образца, работы с монокристаллами (определение монокристалличности, ориентации, наличия двойников);
• знакомство со структурными базами данных и программами, используемыми в структурном анализе;
• ознакомление с основными методами подготовки образцов для ЭМ-исследований, а также определения элементного состава материала.

Планируемые результаты обучения

• владеют указанными методами для решения практических задач

Содержание учебной дисциплины

• Фотометоды. Метод Лауэ, метод вращения (качания), метод Дебая.
• Рентгеновская порошковая дифрактометрия
• Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов.
• Электронная просвечивающая и сканирующая микроскопия

Элементы контроля

• Лабораторный практикум
• Написание отчета
• защита отчета по работе

Промежуточная аттестация

• 2022/2023 учебный год 2 модуль
  0.3 * Написание отчета + 0.4 * Лабораторный практикум + 0.3 * защита отчета по работе

Список литературы

Рекомендуемая основная литература

• Als-Nielsen, J., & McMorrow, D. (2011). Elements of Modern X-ray Physics (Vol. 2nd ed). Hoboken: Wiley. Retrieved from http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&site=eds-live&db=edsebk&AN=391348
• Murphy, B. M., & Seeck, O. H. (2014). X-Ray Diffraction : Modern Experimental Techniques. Boca Raton, FL: Pan Stanford. Retrieved from http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&site=eds-live&db=edsebk&AN=957532
• Илюшин, А. С.  Дифракционный структурный анализ в 2 ч. Часть 1 : учебное пособие для вузов / А. С. Илюшин, А. П. Орешко. — 2-е изд., испр. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2019. — 327 с. — (Авторский учебник). — ISBN 978-5-534-04316-7. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/438402 (дата обращения: 28.08.2023).
• Илюшин, А. С.  Дифракционный структурный анализ в 2 ч. Часть 2 : учебное пособие для вузов / А. С. Илюшин, А. П. Орешко. — 2-е изд., испр. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2019. — 299 с. — (Авторский учебник). — ISBN 978-5-534-04324-2. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/438750 (дата обращения: 28.08.2023).
• Суворов, Э. В.  Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для среднего профессионального образования / Э. В. Суворов. — Москва : Издательство Юрайт, 2019. — 272 с. — (Профессиональное образование). — ISBN 978-5-534-11822-3. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/447623 (дата обращения: 28.08.2023).

Рекомендуемая дополнительная литература

• Garmai, A. V., & Oskolok, K. V. (2018). Development of the Method of Calibration Equations for the X-Ray Fluorescence Analysis of Multicomponent Samples in the Presence of Undetectable Elements. Journal of Analytical Chemistry, 73(7), 631–640. https://doi.org/10.1134/S1061934818070055
• X-ray Microcomputed Tomography (µCT) for Mineral Characterization: A Review of Data Analysis Methods. (2019). Retrieved from http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&site=eds-live&db=edsbas&AN=edsbas.91816402
• Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия : учебник для вузов, Уманский, Я. С., 1982
• Современная кристаллография. Т. 1: Симметрия кристаллов : Методы структурной кристаллографии, Вайнштейн, Б. К., 1979
• Современная кристаллография. Т. 2: Структура кристаллов, Вайнштейн, Б. К., 1979
• Современная кристаллография. Т. 3: Образование кристаллов, Чернов, А. А., 1980
• Современная кристаллография. Т. 4: Физические свойства кристаллов, Шувалов, Л. А., 1981