Исследование и сравнительный анализ измерительных возможностей интерферентной ближнепольной микроскопии

ФИО студента: Миньков Кирилл Николаевич

Руководитель: Золотаревский Юрий Михайлович

Кампус/факультет: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова

Программа: Измерительные технологии наноиндустрии (Магистратура)

Год защиты: 2016

В данной работе объектом исследования являются измерительные возможности интерференционной, конфокальной и ближнепольной микроскопии и метрологически аттестованные меры. Цель работы – сравнительный анализ измерительных возможностей интерференционной, конфокальной и ближнепольной микроскопии и исследование их рациональных областей применения.

Выпускные квалификационные работы (ВКР) в НИУ ВШЭ выполняют все студенты в соответствии с университетским Положением и Правилами, определенными каждой образовательной программой.

Аннотации всех ВКР в обязательном порядке публикуются в свободном доступе на корпоративном портале НИУ ВШЭ.

Полный текст ВКР размещается в свободном доступе на портале НИУ ВШЭ только при наличии согласия студента – автора (правообладателя) работы либо, в случае выполнения работы коллективом студентов, при наличии согласия всех соавторов (правообладателей) работы. ВКР после размещения на портале НИУ ВШЭ приобретает статус электронной публикации.

ВКР являются объектами авторских прав, на их использование распространяются ограничения, предусмотренные законодательством Российской Федерации об интеллектуальной собственности.

В случае использования ВКР, в том числе путем цитирования, указание имени автора и источника заимствования обязательно.

Реестр дипломов НИУ ВШЭ