Использование алгоритмов SAT для задачи тестирования цифровых схем

ФИО студента: Путихин Никита Сергеевич

Кампус/факультет: Факультет информатики, математики и компьютерных наук (Нижний Новгород)

Программа: Интеллектуальный анализ данных (Магистратура)

Год защиты: 2018

В интегральных схемах могут встречаться дефекты, которые могут вызвать неполадки в работе схемы. Автоматическое построение проверяющих наборов (ATPG) - один из наиболее распростарненных методов для нахождения таких дефектов. Как правило в индустрии применяются структурные алгоритмы нахождения проверяющих наборов. Однако методы, основанные на SAT, которые преобразовывают задачи построения тестов в задачи булевой выполнимости, начали набирать популярность, так как они показывают лучшую производительность на сложных входных данных. В данной работе представлен генератор с открытым исходным кодом, использующий модель TG-Pro для представления неисправностей в виде булевых формул и предложены оптимизации этого метода.

Выпускные квалификационные работы (ВКР) в НИУ ВШЭ выполняют все студенты в соответствии с университетским Положением и Правилами, определенными каждой образовательной программой.

Аннотации всех ВКР в обязательном порядке публикуются в свободном доступе на корпоративном портале НИУ ВШЭ.

Полный текст ВКР размещается в свободном доступе на портале НИУ ВШЭ только при наличии согласия студента – автора (правообладателя) работы либо, в случае выполнения работы коллективом студентов, при наличии согласия всех соавторов (правообладателей) работы. ВКР после размещения на портале НИУ ВШЭ приобретает статус электронной публикации.

ВКР являются объектами авторских прав, на их использование распространяются ограничения, предусмотренные законодательством Российской Федерации об интеллектуальной собственности.

В случае использования ВКР, в том числе путем цитирования, указание имени автора и источника заимствования обязательно.

Реестр дипломов НИУ ВШЭ