Исследование электронных компонентов в космической аппаратуре при тепловых воздействиях

В данной выпускной квалификационной работе проводится исследование метода априорного анализа обеспечения запаса коэффициентов тепловой нагрузки. Расчёт данных коэффициентов проводится для моделирования тепловых процессов, происходящих в электронных компонентах печатных узлов электронного блока, находящегося в составе бортовой космической аппаратуры. Исследование вышеупомянутого метода сводится к изучению тепловых режимов на стадии как эскизного, так и технического проектирования аппаратуры. Следует принять во внимание, что данный метод позволяет разработчику проводить моделирование компонентов электронной аппаратуры при многократных изменениях внутренних тепловыделений, а также в зависимости от перепадов температуры окружающей среды. Как результат моделирования, в работе получены величины рабочих температур электронных компонентов. В последствии полученные данные сравниваются с предельно допустимыми значениями данных температур и их отношение формирует такой параметр, как коэффициенты фактических нагрузок электронных компонентов. Что немаловажно, стадия вычисления таких параметров предшествует изготовлению опытных образцов, что в значительной степени облегчает проектирование и последующее конструирование компонентов электронных блоков. В работе приводится наглядное иллюстрирование данного метода, в тексте работы отражены полученные коэффициенты запаса тепловой нагрузки и проведен их анализ. Ключевые слова: моделирование, радиоэлектронная аппаратура, космический аппарат, тепловые воздействия, электронные компоненты; тепловая нагрузка; теплообмен, модель тепловых режимов.