Vladimir Krutikov
- Department Head, Professor:HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE) / Joint Department with the All-Russian Research Institute for Optical and Physical Measurements
- Vladimir Krutikov has been at HSE University since 2013.
Education, Degrees and Academic Titles
- 2005
Doctor of Sciences*
- 1999Associate Professor
- 1976
Candidate of Sciences* (PhD)
- 1970
Degree in Radiophysics and Electronics
Moscow Institute of Physics and Technology
* Candidate of Sciences
According to the International Standard Classification of Education (ISCED) 2011, Candidate of Sciences belongs to ISCED level 8 - "doctoral or equivalent", together with PhD, DPhil, D.Lit, D.Sc, LL.D, Doctorate or similar. Candidate of Sciences allows its holders to reach the level of the Associate Professor.
According to the International Standard Classification of Education (ISCED) 2011, Candidate of Sciences belongs to ISCED level 8 - "doctoral or equivalent", together with PhD, DPhil, D.Lit, D.Sc, LL.D, Doctorate or similar. Candidate of Sciences allows its holders to reach the level of the Associate Professor.
* Doctor of Sciences
A post-doctoral degree called Doctor of Sciences is given to reflect second advanced research qualifications or higher doctorates in ISCED 2011.
A post-doctoral degree called Doctor of Sciences is given to reflect second advanced research qualifications or higher doctorates in ISCED 2011.
Courses (2021/2022)
- Research and Design Seminar (Master’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 2 year, 1, 2 module)Rus
- Past Courses
Courses (2020/2021)
- Research and Design Seminar (Master’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 2 year, 1, 2 module)Rus
- Research and Design Seminar (Master’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 1 year, 1-4 module)Rus
Courses (2019/2020)
- Research and Design Seminar (Master’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 1 year, 1-4 module)Rus
- Research and Design Seminar (Master’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 2 year, 1, 2 module)Rus
Courses (2018/2019)
- Electronic Engineering Research Seminar (Master’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 2 year, 1, 2 module)Rus
- Research and Design Seminar (Master’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 1 year, 1-4 module)Rus
Courses (2017/2018)
- Electronic Engineering Research Seminar (Master’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 1 year, 1-4 module)Rus
- Electronic Engineering Research Seminar (Master’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 2 year, 1, 2 module)Rus
Publications24
- Article Крутиков В. Н., Окрепилов В. МЕТРОЛОГИЯ ДЕНЕГ 2.0 // Измерительная техника. 2022. Т. 2. С. 51-60. doi
- Article Крутиков В. Н., Окрепилов В. В. Метрология денег // Измерительная техника. 2021. № 12. С. 42-50. doi
- Article Крутиков В. Н., Глухов Ю., Иванов В. РИСКИ, СВЯЗАННЫЕ С ПОГРЕШНОСТЬЮ ИЗМЕРЕНИЙ // Контроль качества продукции. 2021. Т. 10. С. 8-16.
- Article Крутиков В. Н., Батурин А. С., Иванов В. С., Кравцов В. Е., Тихомиров С. В. Метрология волоконно-оптических систем передачи информации: особенности, история, современное состояние и перспективы развития // Фотон-экспресс. 2020. № 8. С. 6-15.
- Article Крутиков В. Н., Дунаев А. Ю., Батурин А. С., Морозова С. П. Монохроматический источник излучения на основе суперконтинуум-лазера для измерения спектральной чувствительности приёмников излучения в диапазоне 0,9-1,6 мкм с использованием абсолютного криогенного радиометра // Измерительная техника. 2020. № 11. С. 28-33. doi
- Article Krutikov V., Kanzyuba M. V., BERLIZOV A. B., FEL'DMAN G. G. Complex of technical devices for reproduction, storage, and transmission of the unit of pulse duration of laser radiation in the range 5·10 –11 –1·10 –9 s incorporated into the state primary special standard // Measurement Techniques. 2019. Vol. 61. No. 11. P. 1052-1056. doi
- Article Крутиков В. Н., Батурин А. С., Кравцов В. Е., Митюрев А. Калибровочные и измерительные возможности российской федерации в области волоконной оптики // Фотон-экспресс. 2019. Т. 6. № 158. С. 18-19.
- Article Крутиков В. Н., Канзюба М. В., Берлизов А. Б., Фельдман Г. Г. Комплекс технических средств для воспроизведения, хранения и передачи единицы длительности импульса лазерного излучения в диапазоне 5·〖10〗^(-11)–1·〖10〗^(-9) с в составе государственного первичного специального эталона // Измерительная техника. 2018. № 11. С. 11-14. doi
- Article Крутиков В. Н., Батурин А. С., Голубев С. С., Золотаревский Ю. М., Негода С. Н. Совершенствование государственной эталонной базы в области фотоники // Измерительная техника. 2018. № 9. С. 3-7. doi
- Article Крутиков В. Н., Золотаревский Ю. М., Сахаров К. Ю., Гусев А. С. Функционирование и развитие Центра коллективного пользования в области фотоники // Метрология. Ежемесячное приложение к научно-техническому журналу «Измерительная техника». 2018. № 3. С. 25-36. doi
- Article Крутиков В. Н., Хатырев Н., Щербина А. Метод измерения временных интервалов корреляционных функций последовательности фемтосекундных лазерных импульсов // Измерительная техника. 2017. № 2. С. 32-35.
- Article Крутиков В. Н. Метрологическое обеспечение качества продукции. часть 2. состояние метрологического обеспечения в здравоохранении // Контроль качества продукции. 2017. № 6. С. 23-28.
- Article Магницкий С., Фроловцев Д., Агапов Д., Демин А., Крутиков В. Н. Метрология одиночных фотонов для квантовых информационных технологий // Измерительная техника. 2017. № 3. С. 24-29.
- Article Golubev S., Krutikov V.N., Ivanov V., Zolotarevsky Yu.M. Improvement of the standards base for optophysical measurements // Измерительная техника. 2016. Т. 58. № 11. С. 1189-1194.
- Article Zolotarevsky Yu.M., Korolev I., Krutikov V.N. Metrological support of measurements of the frequency of radiation in optical data processing systems // Измерительная техника. 2016. Т. 58. № 11. С. 1205-1209.
- Article Anevskii S., Zolotarevsky Yu.M., Ivanov V., Krutikov V.N. Spectroradiometry of ultraviolet radiation // Измерительная техника. 2016. Т. 58. № 11. С. 1216-1222.
- Article Крутиков В. Н. Метрологическое обеспечение качества продукции. Часть 1. Основные проблемы // Контроль качества продукции. 2016. № 9. С. 5-11.
- Chapter Tikhonov А. N., Lvov B. G., Petrosyants K. O., Uvaysov S. U., Kharitonov I. A., Balakin Staniclav, Chetyrkin A., Krutikov V.N. The System of Microelectronics Education for Aerospace Industry Based on “University-Enterprise” Link, in: Proceedings of the Tenth Workshop on Microelectronics Education (EWME 2014 ) Vol. 1. Tallinn : Tallinn University of Technology, 2014. Ch. S04-02. P. S04-02-0027-S04-02-0035.
- Article Крутиков В. Н., Золотаревский Ю. М., Лясковский В. Л. Высокодобротные оптические микрорезонаторы с модами типа шепчущей галереи и их применение в прецизионных измерениях // Метрология. Ежемесячное приложение к научно-техническому журналу «Измерительная техника». 2014. № 12. С. 22-40.
- Article Окрепилов В., Крутиков В. Н. Экономическая составляющая в обеспечении единства измерений // Измерительная техника. 2014. № 2. С. 3-8.
- Article Новиков Ю., Летуновский М., Булыгин Ф. В., Крутиков В. Н. IV Всероссийская научно-практическая конференция “Нормативно-правовое регулирование в области обеспечения единства измерений” // Мир измерений. 2013. № 5. С. 47-50.
- Article Золотаревский Ю. М., Крутиков В. Н. Optimization of the parameters of a standard source of synchrotron radiation with strong magnetic field for calibration of ultraviolet plasma radiators and integral radiometer-dosimeters // Измерительная техника. 2013. Т. 55. № 12. С. 1356-1363.
- Article Кононогов С. А., Золотаревский С., Булыгин Ф. В., Крутиков В. Н. Ареальные методы анализа топографии и текстуры поверхности в микронанометровом диапазонах // Метрология. Ежемесячное приложение к научно-техническому журналу «Измерительная техника». 2013. № 2. С. 13-24.
- Article Булыгин Ф. В., Крутиков В. Н. Эталонные источники малоуровневого оптического излучения на основе нанотехнологий // Измерительная техника. 2013. № 1. С. 30-33.