Мастер-класс "Обработка и анализ больших объемов патентных данных"

24 апреля рамках научно-исследовательского семинара магистерской программы «Системы больших данных» состоялся мастер-класс Ена Олега Валерьевича, руководителя проектного офиса Федерального института промышленной собственности (ФИПС).

Главной темой мастер-класса стали современные инструменты патентной аналитики. Студенты познакомились с новой областью применения больших данных – обработка и анализ больших объемов патентных данных (Big Patent Data).

В программе мастер-класса был сделан обзор современных способов охраны интеллектуальной собственности, особое внимание было уделено ценности и уникальности патентной информации для разных форм бизнес-анализа.

Основной фокус выступления был сосредоточен вокруг наиболее зрелого и современного класса продуктов патентной аналитики – отраслевых патентных ландшафтах. В рамках дискуссии были обсуждены мировой опыт (http://www.wipo.int/patentscope/en/programs/patent_landscapes/) и принципы декомпозиции, разработки поисковых стратегий и интеллектуального анализа при разработке патентных ландшафтов на примере реальных проектов, выполненных ФИПС для крупных высокотехнологичных корпораций России.

В завершение мастер-класса Поповым Николаем Васильевичем, руководителем центра перспективных технологий ФИПС были продемонстрированы практические сценарии работы с современным инструментарием патентной аналитики.

По итогам мастер-класса студенты магистратуры были приглашены в ФИПС для участия в теоретических исследованиях и практических работах по созданию патентных ландшафтов, реализуемых в концепции fast track (экспресс-исследования).

Тематика мастер-класса и патентная аналитика в целом могут стать хорошей областью применения таланта, знаний и практической деятельности студентов в бурно развивающемся и востребованном сегменте на стыке инженерии знаний и анализа больших данных.