• A
  • A
  • A
  • АБВ
  • АБВ
  • АБВ
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Тема «профессора»

Опубликованы видео научных семинаров профессора Санг-Вук Чеонга

Санг-Вук Чеонг, профессор и член комитета управления Раттгерского университета, директор Центра исследований перспективных материалов при факультете физики и астрономии Раттгерского университета (г. Пискатуэй, шт. Нью-Джерси, США) провел ряд научных семинаров в МИЭМ НИУ ВШЭ летом 2017 г.

Лев Николаевич Щур избран заслуженным членом Американского физического общества

Профессор МИЭМ НИУ ВШЭ был отмечен за новаторское применение компьютерного моделирования и разработку наилучших генераторов случайных чисел для их использования в статистической физике. Профессор Щур стал единственным ученым, работающим в России, избранным в 2017 году заслуженным членом АРС.

Европейская Микроволновая Неделя - EuMW 2017

Профессор Департамента электронной инженерии МИЭМ НИУ ВШЭ Елизаров Андрей Альбертович по приглашению Российского представительства компании KEYSIGHT Technologies принял участие в работе Европейской Микроволновой Недели (European Microwave Week – 2017), проходившей с 8 по 13 октября 2017 г. в Нюрнберге (Германия).

Международный форум «Микроэлектроника 2017»

Со 2 по 7 октября 2017 в г. Алушта, Республика Крым, прошел Международный форум «Микроэлектроника 2017». «Микроэлектроника 2017» - независимая высокоинтеллектуальная  площадка для ведения конструктивного диалога между научным сообществом, производственными объединениями и представителями бизнес-структур  микроэлектронного кластера и смежных высокотехнологичных отраслей.

XV Международная конференция в области проектирования и тестирования электронных схем

В сербском городе Нови Сад при поддержке Международного института инженеров электротехники и электроники (IEEE) проходила XV Международная конференция в области проектирования и тестирования электронных схем (15-th IEEE EAST-WEST DESIGN & TEST SYMPOSIUM, EWDTS 2017). На конференции среди прочих сообщений были представлены два доклада сотрудников департамента электронной инженерии МИЭМ НИУ ВШЭ

Новая книга профессора Кечиева Л.Н. «Печатные платы и узлы гигабитной электроники»

Вышла в свет новая книга профессора департамента электронной инженерии МИЭМ НИУ ВШЭ Кечиева Л.Н. «Печатные платы и узлы гигабитной электроники». В книге рассматриваются вопросы конструирования печатных плат и печатных узлов для систем гигабитного быстродействия.

«Электронный нос» - новый патент МИЭМ НИУ ВШЭ

Лаборатория космических исследований в области технологий, систем и процессов получила Патент №171691 на полезную модель «Малогабаритное устройство «электронный нос» для распознавания образа запаха широкого класса химических веществ».

Признан победителем без предупреждения

Мы поздравили Григория Наумовича Гольцмана, доктора физико-математических наук, профессора, заведующего базовой кафедрой квантовой оптики и телекоммуникаций ЗАО «Сконтел» магистерской программы «Материалы. Приборы. Нанотехнологии» МИЭМ НИУ ВШЭ, который первым из граждан России получил престижную международную премию Института инженеров электротехники и электроники — IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers) за многолетние и значимые работы в области прикладной сверхпроводимости (Continuing and Significant Contributions in the Field of Applied Superconductivity). Предлагаем вашему вниманию интервью с лауреатом.

Поздравляем Григория Наумовича Гольцмана

Поздравляем Григория Наумовича Гольцмана, который первым из граждан России получил престижную международную премию Института инженеров электротехники и электроники — IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers) за многолетние и значимые работы в области прикладной сверхпроводимости (Continuing and Significant Contributions in the Field of Applied Superconductivity).

Международная конференция по надежности микро- и наноэлектронных приборов – 2017

С 22 по 25 мая 2017 года в китайской «Кремниевой долине», в городе Чэнду – столице провинции Сычуань состоялась крупная международная конференция по надежности микро- и наноэлектронных приборов – 2017 International Workshop on Reliability of Micro-and Nano-Electronic Devices in Harsh Environment (May 22-24, 2017, Chengdu, China). Конференция собрала свыше 200 участников из США, России, Китая, Германии, Франции, Великобритании, Канады, Бельгии, Австрии.