• A
  • A
  • A
  • АБВ
  • АБВ
  • АБВ
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта
Январь 2024
1пн2вт3ср4чт5пт6сб7вс8пн9вт10ср11чт12пт13сб14вс15пн16вт17ср18чт19пт20сб21вс22пн23вт24ср25чт26пт27сб28вс29пн30вт31ср
33
  • Сегодня
  • Завтра

Четверг, 18 апреля

10:00

Международный научный симпозиум «Форсайт и научно-техническая и инновационная политика»

онлайн
17:00

День открытых дверей магистратуры Института медиа

онлайн
17:00

Встреча Итальянского разговорного клуба: «I libri e la stampa»

18:10

Семинар «Понимающая психотерапия и человекоцентрированный подход»: «Возможности применения средств киноискусства в понимающей психотерапии»

18:30

«Data Science в e-com»: встреча с командой Samokat.tech

19:00

День открытых дверей факультета довузовской подготовки

19:00

Семинар серии «Север и Арктика глазами урбанистов»: встреча с Надеждой Замятиной

Пятница, 19 апреля

X Международная научно-практическая конференция молодых ученых, аспирантов и студентов «Здоровье населения и развитие»

Регистрация - до 1 апреля 

онлайн

XIII Конференция молодых исследователей «Текст – комментарий – интерпретация»

Заявки - до 17 марта 

онлайн
12:30

«Креативная внеучебка»: Хаха-день

15:00

Профориентационное мероприятие для абитуриентов «День в Школе иностранных языков»

15:00

Семинар ПГ «Оценка последствий антироссийских санкций для мировой экономики»: «Нефтяной разворот России на Восток или ребалансировка нефтяного рынка?»

17:00

Открытый коллоквиум Центра истории России Нового времени: «День Штудий»

18:00

Творческий конкурс к Международному дню китайского языка: финальный показ лучших работ участников

Иллюстрация к новости: Туннельный контакт помог изучить электронную структуру углеродных нанотрубок

Туннельный контакт помог изучить электронную структуру углеродных нанотрубок

Российские физики показали, что можно использовать туннельный контакт для спектроскопии электронных состояний углеродных нанотрубок. Предложенная технология изготовления туннельного контакта и метод спектроскопии помогут точно определять ширину запрещенной зоны нанотрубок, которая является ключевой характеристикой для разработки любых электронных устройств на их основе. Результаты работы были представлены в журнале Applied Physics Letters.