Константинов Юрий Алексеевич
- Стажер-исследователь:Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова / Учебно-исследовательская лаборатория функциональной безопасности космических аппаратов и систем
- Приглашенный преподаватель:Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова / Департамент компьютерной инженерии
- аспирант:Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова / Департамент электронной инженерии
- Начал работать в НИУ ВШЭ в 2014 году.
Образование
- 2017
Магистратура: Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики», специальность «Электроника и наноэлектроника»
- 2015
Специалитет: Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики», специальность «Инженер»
Обучение в аспирантуре
4-й год обучения
Утвержденная тема диссертации: Разработка методов защиты микроконтроллеров при воздействии ЭСР, обеспечивающих надежность и отказоустойчивость их работы
Научный руководитель: Пожидаев Евгений Димитриевич
Учебные курсы (2019/2020 уч. год)
Алгоритмизация и программирование (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; направление "09.03.01. Информатика и вычислительная техника", направление "11.03.02. Инфокоммуникационные технологии и системы связи"; 1-й курс, 1-4 модуль)Рус
- Информатика (Дисциплины для иностранных студентов; 3, 4 модуль)Рус
- Архив учебных курсов
Учебные курсы (2018/2019 уч. год)
Информатика и программирование (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 2-й курс, 1, 2 модуль)Рус
Публикации6
- Глава книги Konstantinov, U.A.,, Pozhidaev, E.D., Tumkovskiy S.R. Investigation of Electrostatic Discharge Effect on High-power Mosfet-Transistors Considering the Influence of PCB, in: 2019 International Seminar on Electron Devices Design and Production (SED). IEEE, 2019. P. 1-4. doi
- Статья Константинов Ю. А., Горланов Е. С., Пожидаев Е. Д., Тумковский С. Р. Компьютерное моделирование воздействия электростатических разрядов на мощные МОП транзисторы с учетом влияния емкости печатной платы // Системный администратор. 2018. № 9. С. 84-89.
- Глава книги Константинов Ю. А., Шихов А. И. Методика выбора TVS диода для защиты микроконтроллеров // В кн.: Технологии, измерения и испытания в области электромагнитной совместимости. Труды IV Всероссийской НТК «Техно-ЭМС 2018», Москва 28-30 марта 2018 /Под ред. А.С. Кривова, Л.Н. Кечиева - М.: Грифон, 2018. − 128 с. / Под общ. ред.: Л. Кечиева, А. Кривов. Грифон, 2018.
- Статья Константинов Ю. А., Шихов А. И. Моделирование воздействия на микроконтроллеры с использованием TVS диодов // Новые информационные технологии в автоматизированных системах. 2018. С. 265-269.
- Статья Ивашов Е. Н., Константинов Ю. А., Панфилова Е. С., Шихов А. И. Трение и износ элементов вакуумных волновых передач // Современные наукоемкие технологии. 2015. № 2
- Глава книги Шихов А. И., Константинов Ю. А. Язык жестов для взаимодействия с компьютером // В кн.: Новые информационные технологии в автоматизированных системах: материалы восемнадцатого научно-технического семинара / Науч. ред.: В. А. Галактионов, С. Р. Тумковский. М. : Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша РАН, 2015. С. 42-46.
