• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Тема «патентная аналитика»

Патентные ориентиры в поиске научных прорывов

29 ноября 2018 года в Высшей школе экономики завершился Национальный обучающий семинар для специалистов Центров поддержки технологий и инноваций, в течение трех дней проходивший на разных площадках по инициативе Всемирной организации интеллектуальной собственности (ВОИС), Роспатента и Федерального института промышленной собственности (ФИПС). Сотрудники ВШЭ представили свои подходы к анализу патентов и правовому сопровождению результатов интеллектуальной деятельности. Наработки университета в сфере патентной статистики и интеллектуального анализа больших данных, который ее все заметней усиливает, по признанию участников семинара, их весьма вдохновили, расширили горизонты знаний.

Патентные ориентиры в поиске научных прорывов

29 ноября 2018 года в Высшей школе экономики завершился Национальный обучающий семинар для специалистов Центров поддержки технологий и инноваций, в течение трех дней проходивший на разных площадках по инициативе Всемирной организации интеллектуальной собственности (ВОИС), Роспатента и Федерального института промышленной собственности (ФИПС). Сотрудники ВШЭ представили свои подходы к анализу патентов и правовому сопровождению результатов интеллектуальной деятельности. Наработки университета в сфере патентной статистики и интеллектуального анализа больших данных, который ее все заметней усиливает, по признанию участников семинара, их весьма вдохновили, расширили горизонты знаний.