Крутиков Владимир Николаевич
- Заведующий кафедрой, Профессор:Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова / Базовая кафедра Всероссийского научно-исследовательского института оптико-физических измерений (ВНИИОФИ)
- Начал работать в НИУ ВШЭ в 2013 году.
- Научно-педагогический стаж: 17 лет.
Образование, учёные степени и учёные звания
- 2005Доктор технических наук
- 1999Ученое звание: Доцент
- 1976Кандидат физико-математических наук
- 1970
Специалитет: Московский физико-технический институт, специальность «Радиофизика и электроника», квалификация «инженер-физик»
Перечень награждений
Нагрудный знак "Заслуженный метролог КООМЕТ" (апрель 2019)
Медаль "75 лет атомной отрасли России" (сентябрь 2020)
Медаль "Имени Д.И. Менделеева" (ноябрь 2017)
Медаль "15 лет Координационному Комитету МСВС независимых Государств" (июнь 2016)
Медаль "За заслуги перед отечеством II степени" (март 2011)
Нагрудный знак "За заслуги в области стандартизации и качества им. В.В. Бойцова" (август 2011)
Медаль "15 лет Федеральному Управлению по безопасному хранению и уничтожению химического оружия" (февраль 2007)
Знак отличия "Ветеран атомной энергетики и промышленности" (декабрь 2007)
Медаль "Ю.А. Гагарина" (апрель 2007)
Техническое звание «Почетный метролог» (август 2006)
Медаль "Имени акд. В.П. Макеева" (март 2005)
Медаль "В память 850-летия Москвы" (февраль 1997)
Медаль "100-летие подводных сил России" (октябрь 2005)
Медаль "60 лет Победы в Великой Отечественной войне" (март 2004)
Премия Правительства РФ в обл. науки и техники (февраль 2003)
Медаль "За трудовую доблесть" (март 1981)
Учебные курсы (2023/2024 уч. год)
- Инжиниринг в электронике, микро- и наноэлектронике (семинар наставника) (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 1-4 модуль)Рус
- Архив учебных курсов
Учебные курсы (2022/2023 уч. год)
Учебные курсы (2021/2022 уч. год)
Учебные курсы (2020/2021 уч. год)
- Проектно-исследовательский семинар (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 2-й курс, 1, 2 модуль)Рус
- Проектно-исследовательский семинар (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 1-4 модуль)Рус
Учебные курсы (2019/2020 уч. год)
- Проектно-исследовательский семинар (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 1-4 модуль)Рус
- Проектно-исследовательский семинар (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 2-й курс, 1, 2 модуль)Рус
Публикации25
- Статья Иванов В., Крутиков В. Н., Микрюков А., Москалюк С. Государственный первичный эталон единицы средней мощности лазерного излучения ГЭТ 28-2022 // Измерительная техника. 2023. № 4. С. 5-10.
- Статья Крутиков В. Н., Окрепилов В. МЕТРОЛОГИЯ ДЕНЕГ 2.0 // Измерительная техника. 2022. Т. 2. С. 51-60. doi
- Статья Крутиков В. Н., Окрепилов В. В. Метрология денег // Измерительная техника. 2021. № 12. С. 42-50. doi
- Статья Крутиков В. Н., Глухов Ю., Иванов В. РИСКИ, СВЯЗАННЫЕ С ПОГРЕШНОСТЬЮ ИЗМЕРЕНИЙ // Контроль качества продукции. 2021. Т. 10. С. 8-16.
- Статья Крутиков В. Н., Батурин А. С., Иванов В. С., Кравцов В. Е., Тихомиров С. В. Метрология волоконно-оптических систем передачи информации: особенности, история, современное состояние и перспективы развития // Фотон-экспресс. 2020. № 8. С. 6-15.
- Статья Крутиков В. Н., Дунаев А. Ю., Батурин А. С., Морозова С. П. Монохроматический источник излучения на основе суперконтинуум-лазера для измерения спектральной чувствительности приёмников излучения в диапазоне 0,9-1,6 мкм с использованием абсолютного криогенного радиометра // Измерительная техника. 2020. № 11. С. 28-33. doi
- Статья Krutikov V., Kanzyuba M. V., BERLIZOV A. B., FEL'DMAN G. G. Complex of technical devices for reproduction, storage, and transmission of the unit of pulse duration of laser radiation in the range 5·10 –11 –1·10 –9 s incorporated into the state primary special standard // Measurement Techniques. 2019. Vol. 61. No. 11. P. 1052-1056. doi
- Статья Крутиков В. Н., Батурин А. С., Кравцов В. Е., Митюрев А. Калибровочные и измерительные возможности российской федерации в области волоконной оптики // Фотон-экспресс. 2019. Т. 6. № 158. С. 18-19.
- Статья Крутиков В. Н., Канзюба М. В., Берлизов А. Б., Фельдман Г. Г. Комплекс технических средств для воспроизведения, хранения и передачи единицы длительности импульса лазерного излучения в диапазоне 5·〖10〗^(-11)–1·〖10〗^(-9) с в составе государственного первичного специального эталона // Измерительная техника. 2018. № 11. С. 11-14. doi
- Статья Крутиков В. Н., Батурин А. С., Голубев С. С., Золотаревский Ю. М., Негода С. Н. Совершенствование государственной эталонной базы в области фотоники // Измерительная техника. 2018. № 9. С. 3-7. doi
- Статья Крутиков В. Н., Золотаревский Ю. М., Сахаров К. Ю., Гусев А. С. Функционирование и развитие Центра коллективного пользования в области фотоники // Метрология. Ежемесячное приложение к научно-техническому журналу «Измерительная техника». 2018. № 3. С. 25-36. doi
- Статья Крутиков В. Н., Хатырев Н., Щербина А. Метод измерения временных интервалов корреляционных функций последовательности фемтосекундных лазерных импульсов // Измерительная техника. 2017. № 2. С. 32-35.
- Статья Крутиков В. Н. Метрологическое обеспечение качества продукции. часть 2. состояние метрологического обеспечения в здравоохранении // Контроль качества продукции. 2017. № 6. С. 23-28.
- Статья Магницкий С., Фроловцев Д., Агапов Д., Демин А., Крутиков В. Н. Метрология одиночных фотонов для квантовых информационных технологий // Измерительная техника. 2017. № 3. С. 24-29.
- Статья Golubev S., Krutikov V.N., Ivanov V., Zolotarevsky Yu.M. Improvement of the standards base for optophysical measurements // Измерительная техника. 2016. Т. 58. № 11. С. 1189-1194.
- Статья Zolotarevsky Yu.M., Korolev I., Krutikov V.N. Metrological support of measurements of the frequency of radiation in optical data processing systems // Измерительная техника. 2016. Т. 58. № 11. С. 1205-1209.
- Статья Anevskii S., Zolotarevsky Yu.M., Ivanov V., Krutikov V.N. Spectroradiometry of ultraviolet radiation // Измерительная техника. 2016. Т. 58. № 11. С. 1216-1222.
- Статья Крутиков В. Н. Метрологическое обеспечение качества продукции. Часть 1. Основные проблемы // Контроль качества продукции. 2016. № 9. С. 5-11.
- Глава книги Tikhonov А. N., Lvov B. G., Petrosyants K. O., Uvaysov S. U., Kharitonov I. A., Balakin Staniclav, Chetyrkin A., Krutikov V.N. The System of Microelectronics Education for Aerospace Industry Based on “University-Enterprise” Link, in: Proceedings of the Tenth Workshop on Microelectronics Education (EWME 2014 ) Vol. 1. Tallinn : Tallinn University of Technology, 2014. Ch. S04-02. P. S04-02-0027-S04-02-0035.
- Статья Крутиков В. Н., Золотаревский Ю. М., Лясковский В. Л. Высокодобротные оптические микрорезонаторы с модами типа шепчущей галереи и их применение в прецизионных измерениях // Метрология. Ежемесячное приложение к научно-техническому журналу «Измерительная техника». 2014. № 12. С. 22-40.
- Статья Окрепилов В., Крутиков В. Н. Экономическая составляющая в обеспечении единства измерений // Измерительная техника. 2014. № 2. С. 3-8.
- Статья Новиков Ю., Летуновский М., Булыгин Ф. В., Крутиков В. Н. IV Всероссийская научно-практическая конференция “Нормативно-правовое регулирование в области обеспечения единства измерений” // Мир измерений. 2013. № 5. С. 47-50.
- Статья Золотаревский Ю. М., Крутиков В. Н. Optimization of the parameters of a standard source of synchrotron radiation with strong magnetic field for calibration of ultraviolet plasma radiators and integral radiometer-dosimeters // Измерительная техника. 2013. Т. 55. № 12. С. 1356-1363.
- Статья Кононогов С. А., Золотаревский С., Булыгин Ф. В., Крутиков В. Н. Ареальные методы анализа топографии и текстуры поверхности в микронанометровом диапазонах // Метрология. Ежемесячное приложение к научно-техническому журналу «Измерительная техника». 2013. № 2. С. 13-24.
- Статья Булыгин Ф. В., Крутиков В. Н. Эталонные источники малоуровневого оптического излучения на основе нанотехнологий // Измерительная техника. 2013. № 1. С. 30-33.
Опыт работы
2011 – по настоящее время: ВНИИ оптико-физических измерений Росстандарта.
Должности: заместитель директора, директор, главный научный сотрудник
2004 – 2011: Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии.
Должности: и. о. заместителя Руководителя, заместитель Руководителя.
1999 – 2004: Госстандарт России.
Должность: заместитель Председателя.
1996 – 1999: ВНИИ оптико-физических измерений Госстандарта России.
Должность: директор.
1988 – 1996: ВНИИ оптико-физических измерений Госстандарта России.
Должность: заместитель директора.
1981 – 1988: «МЭЛЗ» Министерства электронной промышленности СССР.
Должности: начальник Конструкторско-технологического бюро, начальник Научно-производственного комплекса, заместитель начальника производства по техническим вопросам ПО.
1970 – 1981: Научно-исследовательский институт физических проблем Министерства электронной промышленности СССР.
Должности: инженер, младший научный сотрудник, старший научный сотрудник
Информация*
- Общий стаж: 53 года
- Научно-педагогический стаж: 17 лет
Деятельность
- Директор ФГУП ВНИИОФИ
- Главный редактор журналов «Измерительная техника» и «Метрология»
- Президент региональной метрологической организации COOMET
Дополнительная информация
Лауреат Премии Правительства Российской Федерации в области науки и техники
Академик метрологической академии РФ
Добро пожаловать в студенческую семью
Вновь МИЭМ НИУ ВШЭ приветствовал своих первокурсников, которые стали полноправными членами нашей большой студенческой семьи. По этому поводу 1 сентября 2017 года было организовано торжественное праздничное мероприятие под открытым небом перед зданием института.
Добро пожаловать, первокурсник
1 сентября 2016 года, МИЭМ НИУ ВШЭ приветствовал своих первокурсников, которые стали полноправными членами нашей большой студенческой семьи. По этому поводу было организовано торжественное праздничное мероприятие под открытым небом перед зданием института.
Выставка «Импортозамещение - 2015»
С 14 по 17 сентября 2015 г. в МВЦ «Крокус-ЭКСПО» проходила крупная международная специализированная выставка «Импортозамещение - 2015». Высокий статус выставки подтвердил визит на выставку представительной делегации во главе с Председателем Правительства РФ Д.А. Медведевым.