Красивская Мария Игоревна
- Старший преподаватель:Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова / Департамент электронной инженерии
- Инженер:Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова / Учебная лаборатория метрологии и измерительных технологий
- Начала работать в НИУ ВШЭ в 2012 году.
- Научно-педагогический стаж: 18 лет.
Образование
- 2017
Магистратура: Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики», факультет: Факультет социальных наук, специальность «Менеджмент (магистерская программа "Управление в высшем образовании")»
- 2006
Специалитет: Московский государственный институт электроники и математики, факультет: факультет электроники, специальность «Метрология и метрологическое обеспечение», квалификация «Инженер»
Дополнительное образование / Повышение квалификации / Стажировки
- Программа повышения квалификации "Организация работы преподавателя в системе поддержки учебного процесса SmartLMS НИУ ВШЭ", НИУ ВШЭ, 2022, получено удостоверение
- Программа повышения квалификации "Особености организации учебного процесса в НИУ ВШЭ: правила и принципы, нормативные и методические вопросы, применение информационно-коммуникационных технологий", НИУ ВШЭ, 2021, получено удостоверение.
- Программа повышения квалификации "Оценивание и обратная связь", НИУ ВШЭ, 2019, получен сертификат.
- Introduction to Data Wise: A Collaborative Process to Improve Learning & Teaching (GSE3x), Harvard University, edX, January, 2018, Verified Certificate Issued January 17, 2018.
- English Language, Level: Advanced (C1), Centre of English Studies, Dublin, 2017, Certificate Issued
(PDF, 165 Кб) - Образовательная программа "Английский язык. Поддерживающий курс General English, уровень Pre-Advanced", НИУ ВШЭ, 2017, получен сертификат
(PDF, 204 Кб) - Программа повышения квалификации "Актуальные проблемы методической работы в ВУЗе", НИУ ВШЭ, апрель-июнь 2017, получен сертификат
(PDF, 324 Кб) - Design and Development of Educational Technology (11.132x), Massachusetts Institute of Technology, edX, February - April, 2017, Verified Certificate Issued May 8, 2017.
- Краткосрочное повышение квалификации по теме "SPICE - информационное и программное обеспечение для моделирования планетных миссий", НИУ ВШЭ, май 2013, получен сертификат.
- Краткосрочное повышение квалификации по программе "Методика составления контрольных измерительных материалов для оценки результатов обучения", НИУ ВШЭ, апрель, 2013 г, получен сертификат.
- Программа повышения квалификации по направлению "Проектирование основных образовательных программ ВУЗов при переходе на уровневую систему обучения", МИЭМ, октябрь 2010, получено удостоверение.
Достижения и поощрения
- Почетная грамота Московского института электроники и математики (февраль 2021)
- Благодарность МИЭМ НИУ ВШЭ (май 2018)
- Почётная грамота МИЭМ (июнь 2012)
- Премия за 1-е место в конкурсе на лучшие дипломные работы студентов вузов России по специальности 200501 "Метрология и метрологическое обеспечение" в 2006 г. (март 2006)
Учебные курсы (2023/2024 уч. год)
- Датчики и сенсорные системы (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 2 модуль)Рус
- Компьютерные измерительные технологии (Маго-лего; 3, 4 модуль)Рус
- Компьютерные измерительные технологии (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 3, 4 модуль)Рус
- Метрология и электрорадиоизмерения (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 2-й курс, 3, 4 модуль)Рус
- Основы метрологии (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 3-й курс, 2 модуль)Рус
- Архив учебных курсов
Учебные курсы (2022/2023 уч. год)
- Датчики и сенсорные системы (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 2 модуль)Рус
- Компьютерные измерительные технологии (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 3, 4 модуль)Рус
- Метрология и электрорадиоизмерения (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 2-й курс, 3, 4 модуль)Рус
- Основы метрологии (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 3-й курс, 2 модуль)Рус
Учебные курсы (2021/2022 уч. год)
- Датчики и сенсорные системы (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 1-3 модуль)Рус
- Компьютерные измерительные технологии (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 3, 4 модуль)Рус
- Метрология и электрорадиоизмерения (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 2-й курс, 3, 4 модуль)Рус
- Обработка сигналов и измерительной информации (Майнор; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1, 2 модуль)Рус
- Электротехника, электроника и метрология (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 3-й курс, 1, 2 модуль)Рус
Учебные курсы (2020/2021 уч. год)
- Датчики и сенсорные системы (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 1-3 модуль)Рус
- Computer-based Measurement Technologies (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 3, 4 модуль)Анг
- Метрология и электрорадиоизмерения (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 2-й курс, 3, 4 модуль)Рус
- Основы работы в NI LabView (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 1 модуль)Рус
- Системы сбора данных (Майнор; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 3, 4 модуль)Рус
- Электротехника, электроника и метрология (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 3-й курс, 1, 2 модуль)Рус
Учебные курсы (2019/2020 уч. год)
- Computer-based Measurement Technologies (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 3, 4 модуль)Анг
- Метрология и электрорадиоизмерения (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 2-й курс, 3, 4 модуль)Рус
- Основы работы в NI LabView (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 1, 2 модуль)Рус
- Системы сбора данных (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 1, 2 модуль)Рус
Учебные курсы (2018/2019 уч. год)
- Computer-based Measurement Technologies (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 2-4 модуль)Анг
- Метрология и электрорадиоизмерения (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 2-й курс, 3, 4 модуль)Рус
- Основы работы в NI LabView (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 1, 2 модуль)Рус
- Электротехника, электроника и метрология (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 2-й курс, 1-4 модуль)Рус
Учебные курсы (2017/2018 уч. год)
- Компьютерные измерительные технологии (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 2-4 модуль)Рус
- Метрология и электрорадиоизмерения (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 2-й курс, 2, 3 модуль)Рус
- Электротехника, электроника и метрология (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 2-й курс, 1-4 модуль)Рус
Полномочия / обязанности
- разработка и модернизация лабораторных практикумов с применением современных технологий;
- подготовка и актуализация методических материалов для лабораторных и практических занятий.
Гранты
2016 г.: «Информационно-измерительная система численного моделирования и мониторинга температурных полей электронных средств», грант РФФИ № 14-07-00422 - исполнитель
Конференции
2014
XIII международная научно-практическая конференция "Инженерные приложения на базе технологий NI - NIDays 2014" (Москва). Доклад: Применение среды LabVIEW в метрологии ионизирующих излученийПубликации33
- Статья Юрин А. И., Вишняков Г. Н., Минаев В. Л., Красивская М. И. Измерение показателя преломления с помощью автоколлимационного гониометра // Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики. 2023. Т. 23. № 5. С. 1073-1076.
- Статья Данилин А., Юрин А. И., Кондратьев Н., Ружицкая Д., Дмитриев Н., Булыгин Ф., Семенчинский С., Красивская М. И., Миньков К. Оценка влияния неравномерности поверхности оптических кристаллических микрорезонаторов на их дисперсионные характеристики // Компьютерная оптика. 2023. Т. 47. № 4. С. 580-587. doi
- Статья Миньков К. Н., Данилин А. Н., Шитиков А. Е., Горелов И. К., Галкин М. Л., Мантузов А. В., Артемов Е. А., Красивская М. И., Лобанов В. Е., Биленко И. А. Метод химико-механической обработки поверхности высокодобротных кристаллических микрорезонаторов c модами типа шепчущей галереи // Оптический журнал. 2022. Т. 89. № 11. С. 76-83. doi
- Статья Лебедев Н. М., Миньков К. Н., Шитиков А. Е., Данилин А. Н., Красивская М. И., Лоншаков Е. А., Горелов И. К., Дмитриев Н. Ю., Биленко И. А. Оптимизация изготовления одномодовых растянутых оптических волокон для когерентной микрооптики // Журнал технической физики. 2022. Т. 92. № 6. С. 852-860. doi
- Статья Чукарин М. И., Юрин А. И., Красивская М. И. Перспективы неинвазивной глюкометрии // Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика. 2022. № 3. С. 8-14. doi
- Статья Красивская М. И., Юрин А. И., Гаспарян А. О., Дубильер Я. А., Заволовая Н. Б., Сергеенко К., Денисенко К. Виртуальная лаборатория по электро-радиоизмерениям // Инженерное образование. 2021. № 30. С. 67-76. doi
- Статья Юрин А. И., Красивская М. И., Чукарин М. И., Грязских Н. Ю. Модель неинвазивного волоконно-оптического глюкометра // Датчики и системы. 2021. № 3. С. 63-67. doi
- Статья Иванов М. С., Юрин А. И., Красивская М. И. Оценка тяжести черепно-мозговых травм // Медицинская физика. 2020. № 3. С. 86-90.
- Статья Курчин М. Д., Юрин А. И., Красивская М. И. Разработка универсальной системы управления рулевыми поверхностями беспилотных летательных аппаратов // Датчики и системы. 2020. № 6. С. 15-20. doi
- Статья Иванов М. С., Юрин А. И., Красивская М. И. Разработка устройства для фиксации сотрясения мозга спортсменов // Датчики и системы. 2020. № 8. С. 61-66.
- Глава книги Юрин А. И., Красивская М. И., Чукарин М. И., Ибодулаев И. Коррекция погрешностей волоконно-оптических измерительных преобразователей // В кн.: Инновационные, информационные и коммуникационные технологии: сборник трудов XVI Международной научно-практической конференции / Отв. ред.: И. А. Иванов. Ассоциация выпускников и сотрудников ВВИА им. проф. Жуковского, 2019. С. 367-370.
- Статья Yurin A.I., Dmitriev A.V., Krasivskaya M.I., Zlodeev G.Yu. Adaptive Contactless Fiber-Optic Vibration Displacement Sensor // Измерительная техника. 2017. Т. 59. № 11. С. 1146-1150. doi
- Статья Юрин А. И., Дмитриев А. В., Красивская М. И., Злодеев Г. Ю. Адаптивный бесконтактный волоконно-оптический преобразователь виброперемещений // Измерительная техника. 2016. № 11. С. 11-14.
- Статья Иванов И. А., Красивская М. И., Сафонов С. Н., Увайсов С. У. Прототип информационно-измерительной системы мониторинга температур комплектующих элементов контактным способом // Прикаспийский журнал: управление и высокие технологии. 2016. № 4. С. 154-163.
- Глава книги Злодеев Г. Ю., Юрин А. И., Красивская М. И., Дмитриев А. В. Измерительная система с волоконно-оптическими датчиками // В кн.: Компьютерные измерительные технологии: Материалы I Международного симпозиума / Отв. ред.: И. А. Иванов; под общ. ред.: С. У. Увайсов; науч. ред.: А. Н. Тихонов. М. : ДМК Пресс, 2015. С. 66-70.
- Статья Юрин А. И., Красивская М. И., Дмитриев А. В. Проблемы подготовки специалистов в области метрологии наноиндустрии // Качество. Инновации. Образование. 2015. № 3. С. 19-22.
- Статья Красивская М. И., Лышов С. М., Сафонов С. Н. Структура программно-аппаратного комплекса мониторинга температурных полей печатных узлов электронных средств // Качество. Инновации. Образование. 2015. № 12. С. 59-67.
- Статья Дмитриев А. В., Юрин А. И., Красивская М. И. Волоконно-оптический датчик виброускорений // Приборы. 2014. № 2. С. 7-9.
- Статья Артемьев Б. Г., Взоров В. И., Дмитриев А. В., Красивская М. И., Юрин А. И. О научном и техническом понятии величины // Главный метролог. 2014. № 2. С. 31-34.
- Статья Юрин А. И., Красивская М. И., Дмитриев А. В., Злодеев Г. Ю. Применение виртуальных лабораторных стендов в образовательном процессе // Информационные технологии. 2014. № 6. С. 70-72.
- Глава книги Красивская М. И., Невская Е. Е. Применение среды LabVIEW в метрологии ионизирующих излучений // В кн.: Инженерные и научные приложения на базе технологий NI NIDays – 2014: Сборник трудов ХIII международной научно-практической конференции, Москва 19-20 ноября 2014 г. ДМК-пресс, 2014. С. 338-343.
- Статья Борисов Н. И., Востриков А. В., Красивская М. И., Линецкий Б. Л. Разработка вычислительных схем, основанных на редукции математических выражений методов Эйлера, для расчета растекания токов по элементам конструкции космических аппаратов при электростатических разрядах // Технологии электромагнитной совместимости. 2014. № 2(49). С. 39-46.
- Книга Красивская М. И. Разработка компонентов систем сбора данных: Учебно-методическое пособие к лабораторной работе по курсу «Компьютерные измерительные технологии». М. : МИЭМ НИУ ВШЭ, 2014.
- Статья Дмитриев А. В., Красивская М. И., Юрин А. И. Исследование волоконно-оптических датчиков с внешней модуляцией // Датчики и системы. 2013. № 5. С. 34-37.
- Книга Юрин А. И., Карцев Е. А., Красивская М. И. Методические указания по проведению научно-исследовательского семинара. М. : РИО МИЭМ НИУ ВШЭ, 2013.
- Книга Карцев Е. А., Красивская М. И., Юрин А. И. Методические указания к выполнению дипломных работ и проектов для студентов специальности 200501 «Метрология и метрологическое обеспечение». М. : Московский государственный институт электроники и математики, 2012.
- Книга Карцев Е. А., Красивская М. И., Юрин А. И. Методические указания к выполнению дипломных работ и проектов для студентов специальности 220501 «Управление качеством». М. : Московский государственный институт электроники и математики, 2012.
- Книга Вышлов В. А., Артемьев Б. Г., Красивская М. И. Измерение параметров шероховатости поверхности. Методические указания к лабораторной работе. М. : Московский государственный институт электроники и математики, 2011.
- Книга Красивская М. И., Артемьев Б. Г., Вышлов В. А. Основы контроля линейных размеров: МУ к ЛР. М. : Московский государственный институт электроники и математики, 2011.
- Книга Красивская М. И. Разработка компонентов метрологического обеспечения систем качества. Реализация статистических методов. Методические указания к практическим занятиям. М. : Московский государственный институт электроники и математики, 2011.
- Книга Красивская М. И. Исследование характеристик компонентов АИС на основе приборов с интерфейсом RS-232C: МУ к ЛР. М. : Московский государственный институт электроники и математики, 2010.
- Книга Красивская М. И. Исследование характеристик компонентов АИС на основе приборов с интерфейсом GPIB (КОП): МУ к ЛР. М. : МИЭМ, 2009.
- Книга Красивская М. И. Исследование характеристик компонентов АИС на основе устройств сбора данных (DAQ): МУ к ЛР. М. : Московский государственный институт электроники и математики, 2008.
Опыт работы
2015 года - н.в. - ст. преподаватель департамента электронной инженерии МИЭМ НИУ ВШЭ.
2012-2015 г. - ст.преподаватель кафедры Микросистемной техники, материалов и технологий Факультета электроники и телекоммуникаций МИЭМ НИУ ВШЭ.
2009-2012 г. - ст.преподаватель кафедры Метрологии и сертификации МИЭМ (ТУ).
2006-2009 г. - ассистент кафедры Метрологии и сертификации МИЭМ (ТУ).
2005-2006 г. - техник кафедры Метрологии и сертификации МИЭМ (ТУ).
2003-2005 г. - участие в проведении практических занятий по курсам информационно-технологического обеспечения кафедры Инженерной и машинной графики МИЭМ.
2001-2005 г. - ст. корректор в Редакционно-издательском отделе МИЭМ.
Информация*
- Общий стаж: 18 лет
- Научно-педагогический стаж: 18 лет
- Преподавательский стаж: 18 лет
Данные выводятся в соответствии с требованиями приказа N 831 от 14 августа 2020 г. Федеральной службы по надзору в сфере образования и науки
Исследовательские проекты
- 2006 - «Научно-организационное, методическое и техническое обеспечение организации и поддержки научно-образовательных центров в области управления качеством и осуществление на основе комплексного использования материально-технических и кадровых возможностей совместных исследований и разработок» (НИР № 2006-РИ-16.0/024/122, МИЭМ) – исполнитель.
- 2006 – 2012 – «Центр компьютерных измерительных технологий» (ЦКИТ) Факультета электроники МИЭМ (авторизованный учебно-исследовательский центр корпорации National Instruments) – администратор, ответственный исполнитель.
- 2012 – 2013 – «Разработка и апробация виртуального устройства, имитирующего работу реального измерительного оборудования нанотехнологий» – исполнитель.
Пyбликaции 2002-2008
- Новые концепции в области создания средств информационного обеспечения разработок датчиков новых типов. 14-я НТК «Датчик-2002», Судак, 2002 (тезисы), в соавторстве.
- Программное обеспечение электронного справочника «Датчики и приборы для измерения неэлектрических величин» в системах дистанционного обучения.15-я НТК «Датчик-2003», Судак, 2003 (тезисы), в соавторстве.
- Сравнительный анализ технического уровня датчиков отечественного и зарубежного производства. СНТК МИЭМ, 2004 (тезисы), в соавторстве.
- Сопоставительная оценка датчиковой аппаратуры отечественного и зарубежного производства. 16-я НТК «Датчик-2004», Судак, 2004 (тезисы), в соавторстве.
- Мобильные персональные компьютеры в виртуальных частотно-цифровых средствах измерений. Науч. сессия посв. дню Радио, Москва, 2005 (тезисы), в соавторстве.
- Разработка адаптивных VI-компонентов для частотно-цифровых ИИС. СНТК МИЭМ, 2006 (тезисы).
- Частотно-цифровая ИИС на базе LabVIEW. 8-я междунар. конференция «Цифровая обработка сигналов и ее применение», Москва, 2006 (тезисы), в соавторстве.
- Современные аспекты интеллектуализации метрологического обеспечения частотно-цифровых ИИС. СНТК МИЭМ, 2007 (тезисы).
- Стенд для исследования компонентов АИС на основе типового DAQ (УСД). СНТК МИЭМ, 2008 (тезисы)
- Логические аспекты создания искусственного интеллекта. Проблемы квантификации эпистемологически адекватных представлений // В кн.: «Философия искусственного интеллекта»: Материалы студенческой конференции МИЭМ, 20 мая 2004 г. / Под ред. А.Ю. Алексеева – М.: МИЭМ, 2006. – С.107-109
- Интеллектуализация метрологического обеспечения при исследовании датчиков с частотным выходом. // «Студенческая Аудитория» №12, 2006.
- Разработка интеллектуализированных измерительных систем в среде LabVIEW. Комплект из 7 МУ к ПЗ. МИЭМ, 2005-2006, 148 с., в соавторстве.
- Исследование характеристик элементов виртуальных ИИС на основе датчиков с частотным выходом: МУ к ЛР. МИЭМ, 2006, в соавторстве.
- Методические указания по проведению учебной практики по специальности 220501 «Управление качеством». МИЭМ, 2007, в соавторстве.
- Изучение принципов построения базы данных по средствам измерения с интегрированной в нее информационно-поисковой системой: МУ к ЛР. МИЭМ, 2008, в соавторстве.
- Разработка интеллектуализированных измерительных систем в среде LabVIEW. Express-VI для статистической обработки данных: МУ к ЛР. МИЭМ, 2008.
MIEM Holds ‘Electronics, Photonics and the Internet of Things’ Summer School
Over three days, the participants learnt about the main subject areas of the master's programmes of the HSE School of Electronic Engineering. About three dozen undergraduate students and graduates from different Russian universities took part in the summer school. Leading MIEM teachers and visiting lecturers from Russian companies were among those who spoke about promising areas of development in electronics, photonics, quantum technologies and the Internet of Things (IoT).
В МИЭМ прошла летняя школа «Электроника, фотоника и интернет вещей»
В течение трех дней ее участникам были представлены главные предметные области магистерских программ департамента электронной инженерии НИУ ВШЭ. Всего в работе летней школы приняли участие около трех десятков студентов и выпускников бакалавриата из разных вузов страны. В числе докладчиков школы были как ведущие преподаватели МИЭМ, так и приглашенные сотрудники профильных российских компаний. Они рассказали о перспективных направлениях развития электроники, фотоники, квантовых технологий и интернета вещей (IoT).
В МИЭМ прошла III летняя школа «Электроника, наноэлектроника и интернет вещей»
В работе школы приняли участие около 30 студентов и выпускников бакалавриата. В числе докладчиков школы были как ведущие преподаватели МИЭМ НИУ ВШЭ, так и приглашенные сотрудники профильных российских компаний.
Предновогодний визит в Цифровой МИЭМ
В конце 2020 года в МИЭМ состоялась стажировка «Практика и методика онлайн-обучения для инженерных специальностей», организованная для работников российских высших учебных заведений.
В МИЭМ прошла II Летняя школа "Электроника, наноэлектроника и интернет вещей"
В период с 07 по 09 июля 2020 г. в МИЭМ состоялась летняя онлайн школа «Электроника, наноэлектроника и интернет вещей». Обучение проводилось в онлайн-формате на платформе Zoom.
Контроль электронных компонентов и другие важные исследования – в основе взаимоотношений с компанией «ФОРМ»
29 мая в МИЭМ НИУ ВШЭ прошел семинар «Современные инструменты контроля и исследований электронной компонентой базы», организованный совместно департаментом электронной инженерии МИЭМ и предприятием ООО «ФОРМ», разработчиком и производителем автоматизированных средств измерений электронных компонентов - Тестеров FORMULA.
Будущим инженерам
Продолжаем знакомство с деятельностью лектория «Будущему инженеру», организованного в МИЭМ НИУ ВШЭ, цикле ежемесячных развивающих бесплатных занятий для старшеклассников по инженерно-техническому направлению, которые включают в себя лекции профессоров и молодых ученых по актуальным проблемам современности и ключевым вопросам технических и физико-математических наук; практические занятия и проектную деятельность.