Maria Krasivskaya
- Senior Lecturer:HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE) / School of Electronic Engineering
- Engineer:HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE) / Teaching Laboratory of Metrology and Measuring Technology
- Maria Krasivskaya has been at HSE University since 2012.
Education
- 2017
Master's in Management (Management in Higher Education)
HSE University, Faculty of Social Sciences - 2006
Degree in Metrology and Measurement Assurance
Moscow State Institute of Electronics and Mathematics, Faculty of Electronics
Continuing education / Professional retraining / Internships / Study abroad experience
- Training program "Organization of the lecturer's work in the HSE SmartLMS educational process support system", NRU HSE, 2022, Certificate Issued
- Training program "Features of the organization of the educational process at the Higher School of Economics: rules and principles, regulatory and methodological issues, the use of information and communication technologies", NRU HSE, 2021, Certificate Issued.
- Training program "Assessment and Feedback", NRU HSE, 2019, Certificate Issued
- Introduction to Data Wise: A Collaborative Process to Improve Learning & Teaching (GSE3x), Harvard University, edX, January, 2018, Verified Certificate Issued January 17, 2018.
- English Language, Level: Advanced (C1), Centre of English Studies, Dublin, 2017, Certificate Issued
(PDF, 165 Кб) - Training program "The English Language. Supporting Course General English, Pre-Advanced Level", NRU HSE, 2017, , Certificate Issued
(PDF, 204 Кб) - Professional training program “Current Issues of Methodical Work at the University", NRU HSE, April-June, 2017, Certificate Issued
(PDF, 324 Кб) - Design and Development of Educational Technology (11.132x), Massachusetts Institute of Technology, edX, February - April, 2017, Verified Certificate Issued May 8, 2017.
- Short-term program "SPICE – Dataware and Software for Modeling of Planetary Missions", NRU HSE, May, 2013, Certificate Issued.
- Short-term program "Methodology for Assessment Development for Evaluation of Learning Outcomes", NRU HSE, April, 2013, Certificate Issued.
- Professional training program “Design of University Educational Programs at Transition to Multilevel Educational System”, MIEM, October, 2010, Certificate Issued.
Courses (2022/2023)
- Basics of metrology (Bachelor’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 3 year, 2 module)Rus
- Computer-based Measurement Technologies (Master’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 1 year, 3, 4 module)Rus
- Metrology and Electric and Radio Measurements (Bachelor’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 2 year, 3, 4 module)Rus
- Sensor Systems (Master’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 1 year, 2 module)Rus
- Past Courses
Courses (2021/2022)
- Computer-based Measurement Technologies (Master’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 1 year, 3, 4 module)Rus
- Electrical Engineering, Electronics and Metrology (Bachelor’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 3 year, 1, 2 module)Rus
- Metrology and Electric and Radio Measurements (Bachelor’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 2 year, 3, 4 module)Rus
- Sensor Systems (Master’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 1 year, 1-3 module)Rus
- Signal and Measurement Processing (Minor; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 1, 2 module)Rus
Courses (2020/2021)
- Computer-based Measurement Technologies (Master’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 1 year, 3, 4 module)Eng
- Data acquisition systems (Minor; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 3, 4 module)Rus
- Electronics, Electrical and Metrology (Bachelor’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 3 year, 1, 2 module)Rus
- Metrology and Electric and Radio Measurements (Bachelor’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 2 year, 3, 4 module)Rus
- NI LabView Basics (Master’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 1 year, 1 module)Rus
- Sensor Systems (Master’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 1 year, 1-3 module)Rus
Courses (2019/2020)
- Computer-based Measurement Technologies (Master’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 1 year, 3, 4 module)Eng
- Data acquisition systems (Master’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 1 year, 1, 2 module)Rus
- Metrology and Electric and Radio Measurements (Bachelor’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 2 year, 3, 4 module)Rus
- NI LabView Basics (Master’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 1 year, 1, 2 module)Rus
Courses (2018/2019)
- Computer-based Measurement Technologies (Master’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 1 year, 2-4 module)Eng
- Electronics, Electrical and Metrology (Bachelor’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 2 year, 1-4 module)Rus
- Metrology and Electric and Radio Measurements (Bachelor’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 2 year, 3, 4 module)Rus
- NI LabView Basics (Master’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 1 year, 1, 2 module)Rus
Courses (2017/2018)
- Computer-based Measurement Technologies (Master’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 1 year, 2-4 module)Rus
- Electronics, Electrical and Metrology (Bachelor’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 2 year, 1-4 module)Rus
- Metrology and Electric and Radio Measurements (Bachelor’s programme; HSE Tikhonov Moscow Institute of Electronics and Mathematics (MIEM HSE); 2 year, 2, 3 module)Rus
Publications31
- Article Миньков К. Н., Данилин А. Н., Шитиков А. Е., Горелов И. К., Галкин М. Л., Мантузов А. В., Артемов Е. А., Красивская М. И., Лобанов В. Е., Биленко И. А. Метод химико-механической обработки поверхности высокодобротных кристаллических микрорезонаторов c модами типа шепчущей галереи // Оптический журнал. 2022. Т. 89. № 11. С. 76-83. doi
- Article Лебедев Н. М., Миньков К. Н., Шитиков А. Е., Данилин А. Н., Красивская М. И., Лоншаков Е. А., Горелов И. К., Дмитриев Н. Ю., Биленко И. А. Оптимизация изготовления одномодовых растянутых оптических волокон для когерентной микрооптики // Журнал технической физики. 2022. Т. 92. № 6. С. 852-860. doi
- Article Чукарин М. И., Юрин А. И., Красивская М. И. Перспективы неинвазивной глюкометрии // Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика. 2022. № 3. С. 8-14. doi
- Article Красивская М. И., Юрин А. И., Гаспарян А. О., Дубильер Я. А., Заволовая Н. Б., Сергеенко К., Денисенко К. Виртуальная лаборатория по электро-радиоизмерениям // Инженерное образование. 2021. № 30. С. 67-76. doi
- Article Юрин А. И., Красивская М. И., Чукарин М. И., Грязских Н. Ю. Модель неинвазивного волоконно-оптического глюкометра // Датчики и системы. 2021. № 3. С. 63-67. doi
- Article Иванов М. С., Юрин А. И., Красивская М. И. Оценка тяжести черепно-мозговых травм // Медицинская физика. 2020. № 3. С. 86-90.
- Article Курчин М. Д., Юрин А. И., Красивская М. И. Разработка универсальной системы управления рулевыми поверхностями беспилотных летательных аппаратов // Датчики и системы. 2020. № 6. С. 15-20. doi
- Article Иванов М. С., Юрин А. И., Красивская М. И. Разработка устройства для фиксации сотрясения мозга спортсменов // Датчики и системы. 2020. № 8. С. 61-66.
- Chapter Юрин А. И., Красивская М. И., Чукарин М. И., Ибодулаев И. Коррекция погрешностей волоконно-оптических измерительных преобразователей // В кн.: Инновационные, информационные и коммуникационные технологии: сборник трудов XVI Международной научно-практической конференции / Отв. ред.: И. А. Иванов. Ассоциация выпускников и сотрудников ВВИА им. проф. Жуковского, 2019. С. 367-370.
- Article Yurin A.I., Dmitriev A.V., Krasivskaya M.I., Zlodeev G.Yu. Adaptive Contactless Fiber-Optic Vibration Displacement Sensor // Измерительная техника. 2017. Т. 59. № 11. С. 1146-1150. doi
- Article Юрин А. И., Дмитриев А. В., Красивская М. И., Злодеев Г. Ю. Адаптивный бесконтактный волоконно-оптический преобразователь виброперемещений // Измерительная техника. 2016. № 11. С. 11-14.
- Article Иванов И. А., Красивская М. И., Сафонов С. Н., Увайсов С. У. Прототип информационно-измерительной системы мониторинга температур комплектующих элементов контактным способом // Прикаспийский журнал: управление и высокие технологии. 2016. № 4. С. 154-163.
- Chapter Злодеев Г. Ю., Юрин А. И., Красивская М. И., Дмитриев А. В. Измерительная система с волоконно-оптическими датчиками // В кн.: Компьютерные измерительные технологии: Материалы I Международного симпозиума / Отв. ред.: И. А. Иванов; под общ. ред.: С. У. Увайсов; науч. ред.: А. Н. Тихонов. М. : ДМК Пресс, 2015. С. 66-70.
- Article Юрин А. И., Красивская М. И., Дмитриев А. В. Проблемы подготовки специалистов в области метрологии наноиндустрии // Качество. Инновации. Образование. 2015. № 3. С. 19-22.
- Article Красивская М. И., Лышов С. М., Сафонов С. Н. Структура программно-аппаратного комплекса мониторинга температурных полей печатных узлов электронных средств // Качество. Инновации. Образование. 2015. № 12. С. 59-67.
- Article Дмитриев А. В., Юрин А. И., Красивская М. И. Волоконно-оптический датчик виброускорений // Приборы. 2014. № 2. С. 7-9.
- Article Артемьев Б. Г., Взоров В. И., Дмитриев А. В., Красивская М. И., Юрин А. И. О научном и техническом понятии величины // Главный метролог. 2014. № 2. С. 31-34.
- Article Юрин А. И., Красивская М. И., Дмитриев А. В., Злодеев Г. Ю. Применение виртуальных лабораторных стендов в образовательном процессе // Информационные технологии. 2014. № 6. С. 70-72.
- Chapter Красивская М. И., Невская Е. Е. Применение среды LabVIEW в метрологии ионизирующих излучений // В кн.: Инженерные и научные приложения на базе технологий NI NIDays – 2014: Сборник трудов ХIII международной научно-практической конференции, Москва 19-20 ноября 2014 г. ДМК-пресс, 2014. С. 338-343.
- Article Борисов Н. И., Востриков А. В., Красивская М. И., Линецкий Б. Л. Разработка вычислительных схем, основанных на редукции математических выражений методов Эйлера, для расчета растекания токов по элементам конструкции космических аппаратов при электростатических разрядах // Технологии электромагнитной совместимости. 2014. № 2(49). С. 39-46.
- Book Красивская М. И. Разработка компонентов систем сбора данных: Учебно-методическое пособие к лабораторной работе по курсу «Компьютерные измерительные технологии». М. : МИЭМ НИУ ВШЭ, 2014.
- Article Дмитриев А. В., Красивская М. И., Юрин А. И. Исследование волоконно-оптических датчиков с внешней модуляцией // Датчики и системы. 2013. № 5. С. 34-37.
- Book Юрин А. И., Карцев Е. А., Красивская М. И. Методические указания по проведению научно-исследовательского семинара. М. : РИО МИЭМ НИУ ВШЭ, 2013.
- Book Карцев Е. А., Красивская М. И., Юрин А. И. Методические указания к выполнению дипломных работ и проектов для студентов специальности 200501 «Метрология и метрологическое обеспечение». М. : Московский государственный институт электроники и математики, 2012.
- Book Карцев Е. А., Красивская М. И., Юрин А. И. Методические указания к выполнению дипломных работ и проектов для студентов специальности 220501 «Управление качеством». М. : Московский государственный институт электроники и математики, 2012.
- Book Вышлов В. А., Артемьев Б. Г., Красивская М. И. Измерение параметров шероховатости поверхности. Методические указания к лабораторной работе. М. : Московский государственный институт электроники и математики, 2011.
- Book Красивская М. И., Артемьев Б. Г., Вышлов В. А. Основы контроля линейных размеров: МУ к ЛР. М. : Московский государственный институт электроники и математики, 2011.
- Book Красивская М. И. Разработка компонентов метрологического обеспечения систем качества. Реализация статистических методов. Методические указания к практическим занятиям. М. : Московский государственный институт электроники и математики, 2011.
- Book Красивская М. И. Исследование характеристик компонентов АИС на основе приборов с интерфейсом RS-232C: МУ к ЛР. М. : Московский государственный институт электроники и математики, 2010.
- Book Красивская М. И. Исследование характеристик компонентов АИС на основе приборов с интерфейсом GPIB (КОП): МУ к ЛР. М. : МИЭМ, 2009.
- Book Красивская М. И. Исследование характеристик компонентов АИС на основе устройств сбора данных (DAQ): МУ к ЛР. М. : Московский государственный институт электроники и математики, 2008.
Employment history
2015 – present Senior Lecturer, National Research University Higher School of Economics, Moscow Institute of Electronics and Mathematics, School of Electronic Engineering
2012 – 2015 Senior Lecturer, National Research University Higher School of Economics, MIEM, Faculty of Electronics and Telecommunications, Department of Microsystems Engineering, Material Science and Technologies
2009 – 2012 Senior Lecturer, MIEM, Department of Metrology and Certification
2006 – 2009 Assistant Lecturer, MIEM, Department of Metrology and Certification,
2005 – 2006 Technician, MIEM, Department of Metrology and Certification
2001 – 2005 Corrector, MIEM, Editorial-publishing department
MIEM Holds ‘Electronics, Photonics and the Internet of Things’ Summer School
Over three days, the participants learnt about the main subject areas of the master's programmes of the HSE School of Electronic Engineering. About three dozen undergraduate students and graduates from different Russian universities took part in the summer school. Leading MIEM teachers and visiting lecturers from Russian companies were among those who spoke about promising areas of development in electronics, photonics, quantum technologies and the Internet of Things (IoT).