Юрин Александр Игоревич
- Доцент:Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова / Департамент электронной инженерии
- Академический руководитель образовательной программы:Прикладная электроника и фотоника
- Начал работать в НИУ ВШЭ в 2012 году.
- Научно-педагогический стаж: 17 лет.
Образование, учёные степени и учёные звания
- 2013Ученое звание: Доцент
- 2009Кандидат технических наук: Московский государственный институт электроники и математики, специальность 05.11.15 «Метрология и метрологическое обеспечение»
- 2002
Специалитет: Московский государственный институт электроники и математики, факультет: Факультет электроники, специальность «Метрология и метрологическое обеспечение», квалификация «Инженер»
Дополнительное образование / Повышение квалификации / Стажировки
- Организация работы преподавателя в системе поддержки учебного процесса Smart LMS НИУ ВШЭ: базовый курс, НИУ ВШЭ, 2021
Сертификат_LMS (PDF, 1,18 Мб)
- Основы анализа данных и искусственного интеллекта, НИУ ВШЭ, 2017
Сертификат_ИИ
- Методические основы реализации компетентностного подхода в НИУ ВШЭ и разработки КИМ к образовательным стандартам НИУ ВШЭ, НИУ ВШЭ, 2014
Сертификат_М_КИМ
- Профессионально-общественная аккредитация образовательных программ образовательных организаций высшего образования в области нанотехнологий, АИОР, 2014
Сертификат_ПОА
Достижения и поощрения
- Благодарность первого проректора НИУ ВШЭ (ноябрь 2022)
- Почетная грамота Московского института электроники и математики (февраль 2021)
- Почетная грамота за многолетнюю и плодотворную деятельность по подготовке высококвалифицированных специалистов и в связи с пятидесятилетием МИЭМ (июнь 2012)
- Лучший преподаватель – 2015
Полномочия / обязанности
- разработка учебных планов образовательной программы
- разработка матрицы компетенций и перечня основных результатов обучения
- методическое и информационное сопровождение образовательной программы
- контроль и оценка качества реализации программы
- контроль выбора студентами индивидуальных образовательных траекторий
- координация приёмной кампании по набору абитуриентов на образовательную программу
- взаимодействие с руководителями и работниками структурных подразделений НИУ ВШЭ по вопросам, связанным с реализацией ОП
- руководство подготовкой образовательной программы к государственной и общественно-профессиональной аккредитации
Учебные курсы (2022/2023 уч. год)
- Метрология и электрорадиоизмерения (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 2-й курс, 3, 4 модуль)Рус
- Основы метрологии (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 3-й курс, 2 модуль)Рус
Проектно-исследовательский семинар (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; направление "11.04.04. Электроника и наноэлектроника", направление "11.04.04. Электроника и наноэлектроника"; 2-й курс, 1-3 модуль)Рус
- Архив учебных курсов
Учебные курсы (2021/2022 уч. год)
- Метрология и электрорадиоизмерения (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 2-й курс, 3, 4 модуль)Рус
- Проектно-исследовательский семинар (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 2-й курс, 1, 2 модуль)Рус
- Электротехника, электроника и метрология (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 3-й курс, 1, 2 модуль)Рус
Учебные курсы (2020/2021 уч. год)
- Методы и средства измерений (Майнор; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1, 2 модуль)Рус
- Метрология и измерительная техника (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 1, 2 модуль)Рус
- Метрология и электрорадиоизмерения (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 2-й курс, 3, 4 модуль)Рус
- Основы проектной деятельности (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 3 модуль)Рус
- Управление интеллектуальной собственностью - основы для инженеров (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 3 модуль)Рус
- Цифровые устройства и микропроцессоры (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 3 модуль)Рус
- Электротехника, электроника и метрология (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 3-й курс, 1, 2 модуль)Рус
Учебные курсы (2019/2020 уч. год)
- Метрология и измерительная техника (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 1, 2 модуль)Рус
- Метрология и электрорадиоизмерения (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 2-й курс, 3, 4 модуль)Рус
- MOS Transistors (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 3 модуль)Анг
- Основы проектной деятельности (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 3 модуль)Рус
- Теория решения изобретательских задач (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 3 модуль)Рус
- Цифровые устройства и микропроцессоры (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 3 модуль)Рус
Учебные курсы (2018/2019 уч. год)
- Метрология и измерительная техника (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 1, 2 модуль)Рус
- Метрология и электрорадиоизмерения (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 2-й курс, 3, 4 модуль)Рус
- Электротехника, электроника и метрология (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 2-й курс, 1-4 модуль)Рус
Учебные курсы (2017/2018 уч. год)
- Метрология и измерительная техника (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 1-й курс, 1, 2 модуль)Рус
- Метрология и электрорадиоизмерения (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 2-й курс, 2, 3 модуль)Рус
- Электротехника, электроника и метрология (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 2-й курс, 1-4 модуль)Рус
20232
- Статья Юрин А. И., Вишняков Г., Минаев В. Л. Измерение показателя преломления модифицированным методом призмы // Измерительная техника. 2023. № 2. С. 19-23. doi
- Статья Юрин А. И., Вишняков Г., Минаев В. Л. Определение солености морской воды по измерениям показателя преломления // Оптика атмосферы и океана. 2023. Т. 36. № 3. С. 244-248. doi
20225
- Статья Юрин А. И., Вишняков Г., Минаев В. Л. Измерение показателя преломления с помощью гониометрической системы // Оптика и спектроскопия. 2022. Т. 130. № 12. С. 1899-1903. doi
- Статья Юрин А. И., Вишняков Г., Минаев В. Л. Измерение показателя преломления с помощью гониометрической системы в автоматизированном режиме // Оптический журнал. 2022. Т. 89. № 12. С. 13-18. doi
- Статья Юрин А. И., Вишняков Г., Минаев В. Л. Измерение показателя преломления с помощью модифицированного метода Литтрова–Аббе // Оптический журнал. 2022. Т. 89. № 11. С. 39-43. doi
- Статья Юрин А. И., Вишняков Г. Н., Минаев В. Л. Измерение показателя преломления с помощью модифицированного метода постоянного отклонения // Измерительная техника. 2022. № 12. С. 35-39. doi
- Статья Чукарин М. И., Юрин А. И., Красивская М. И. Перспективы неинвазивной глюкометрии // Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика. 2022. № 3. С. 8-14. doi
20213
- Статья Minkov K. N., Likhachev G. V., Pavlov N. G., Danilin A. N., Shitikov A. E., Yurin A., Lonshakov E. A., Bulygin V., Lobanov V. E., Bilenko I. A. Fabrication of high-Q crystalline whispering gallery mode microcavities using single-point diamond turning // Journal of Optical Technology (A Translation of Opticheskii Zhurnal). 2021. Vol. 88. No. 6. P. 348-353. doi
- Статья Красивская М. И., Юрин А. И., Гаспарян А. О., Дубильер Я. А., Заволовая Н. Б., Сергеенко К., Денисенко К. Виртуальная лаборатория по электро-радиоизмерениям // Инженерное образование. 2021. № 30. С. 67-76. doi
- Статья Юрин А. И., Красивская М. И., Чукарин М. И., Грязских Н. Ю. Модель неинвазивного волоконно-оптического глюкометра // Датчики и системы. 2021. № 3. С. 63-67. doi
20203
- Статья Иванов М. С., Юрин А. И., Красивская М. И. Оценка тяжести черепно-мозговых травм // Медицинская физика. 2020. № 3. С. 86-90.
- Статья Курчин М. Д., Юрин А. И., Красивская М. И. Разработка универсальной системы управления рулевыми поверхностями беспилотных летательных аппаратов // Датчики и системы. 2020. № 6. С. 15-20. doi
- Статья Иванов М. С., Юрин А. И., Красивская М. И. Разработка устройства для фиксации сотрясения мозга спортсменов // Датчики и системы. 2020. № 8. С. 61-66.
20194
- Статья Belyanin A., Bagdasaryan S., Bagdasaryan A., Yurin A., Surzhikov A. Dielectric and magnetic properties of nanocomposites based on opal matrixes, phosphates and vanadates of metals // Materials Science Forum. 2019. Vol. 970. P. 100-106. doi
- Глава книги Юрин А. И., Красивская М. И., Чукарин М. И., Ибодулаев И. Коррекция погрешностей волоконно-оптических измерительных преобразователей // В кн.: Инновационные, информационные и коммуникационные технологии: сборник трудов XVI Международной научно-практической конференции / Отв. ред.: И. А. Иванов. Ассоциация выпускников и сотрудников ВВИА им. проф. Жуковского, 2019. С. 367-370.
- Статья Курчин М. Д., Юрин А. И. Макет несертифицированной рулевой машины для экспериментальной малой авиации // Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика. 2019. № 12. С. 1-6. doi
- Статья Белянин А., Багдасарян А., Гуляев Ю., Юрин А. И., Павлюкова Е. Строение, диэлектрические и магнитные свойства нанокомпозитов на основе опаловых матриц, фосфатов и ванадатов металлов // Журнал радиоэлектроники. 2019. № 5. С. 1-15. doi
20187
- Глава книги Kulagin V., Ivanov A. I., Kaperko A., Kuznetsov Y. M., Obolyaeva N., Chulkova G., Yurin A., Shustrov A. The technology of processing information and recognizing gas mixtures using a multisensory system based on the use of neural networks, in: 2018 Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT). Proceedings. M. : IEEE, 2018. P. 1-5. doi
- Глава книги Налимов С. А., Шашин Д., Юрин А. И. Влияние отжига на строение пленок ZnO, выращенных магнетронным распылением // В кн.: Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения: материалы Международной научно-технической конференции «INTERMATIC– 2018», 19–23 ноября 2018 г. М. : Московский технологический университет (МИРЭА), 2018. Гл. 1. С. 156-159.
- Статья Налимов С. А., Багдасарян С., Юрин А. И., Борисов В. Влияние строения наноструктурированных тонких пленок углеродных материалов и нитридов металлов (TiN, ZrN, AlN) на механические характеристики слоистых структур // Наукоемкие технологии. 2018. № 4. С. 50-57.
- Глава книги Налимов С. А., Багдасарян С., Юрин А. И., Борисов В. Защитные наноструктурированные пленки нитридов металлов (TiN, ZrN, AlN) и углеродных материалов // В кн.: Материалы XIII Международной научно-технической конференции «Вакуумная техника, материалы и технология» (Москва, КВЦ «Сокольники, 2018, 24-26 апреля 2018г.). М.: Новелла. 2018, 272с. Новелла, 2018. С. 154-159.
- Глава книги Налимов С. А., Юрин А. И. Исследование строения и свойств пленок углеродных и алмазоподобных материалов // В кн.: Инновационные, информационные и коммуникационные технологии: сборник трудов XV Международной научно-практической конференции / Отв. ред.: И. А. Иванов. М. : Ассоциация выпускников и сотрудников ВВИА им. проф. Жуковского, 2018. С. 256-260.
- Статья Кожевников А. Ю., Юрин А. И. Методика прецизионного измерения малых сопротивлений с помощью двухпроводного мультиплексора // Датчики и системы. 2018. № 7. С. 38-40.
- Статья Кожевников А. Ю., Юрин А. И. Особенности метрологического обеспечения комплексных компонентов измерительных систем на стадиях их жизненного цикла // Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика. 2018. № 11. С. 31-34. doi
20174
- Статья Yurin A.I., Dmitriev A.V., Krasivskaya M.I., Zlodeev G.Yu. Adaptive Contactless Fiber-Optic Vibration Displacement Sensor // Измерительная техника. 2017. Т. 59. № 11. С. 1146-1150. doi
- Глава книги Юрин А. И., Кожевников А. Ю. Автоматизация контроля параметров трансформаторов // В кн.: Инновационные, информационные и коммуникационные технологии. Сборник трудов XIV Международной научно-практической конференции, 1-10 октября 2017 года, Россия, г. Сочи / Отв. ред.: И. А. Иванов; под общ. ред.: С. У. Увайсов. М. : Ассоциация выпускников и сотрудников ВВИА им. проф. Жуковского, 2017. С. 84-86.
- Статья Кожевников А. Ю., Юрин А. И. Автоматизированный измерительный комплекс для параметрического контроля трансформаторов // Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика. 2017. № 9. С. 1-6.
- Статья Кожевников А. Ю., Юрин А. И. Автоматизированный контроль фазировки обмоток трансформаторов // Датчики и системы. 2017. № 7. С. 41-44.
20166
- Статья Юрин А. И., Дмитриев А. В., Красивская М. И., Злодеев Г. Ю. Адаптивный бесконтактный волоконно-оптический преобразователь виброперемещений // Измерительная техника. 2016. № 11. С. 11-14.
- Глава книги Юрин А. И., Злодеев Г. Ю. Измерительная система для контроля параметров вибрации // В кн.: Инновационные, информационные и коммуникационные технологии: сборник трудов XIII Международной научно-практической конференции / Под общ. ред.: С. У. Увайсов. М. : Ассоциация выпускников и сотрудников ВВИА им. проф. Жуковского, 2016. С. 245-247.
- Статья Юрин А. И., Нефедов А. П. Исследование метрологической надежности манометров // Научно-технический вестник Брянского государственного университета. 2016. № 3. С. 75-79.
- Статья Юрин А. И., Неборский А. Ю. Коррекция нелинейности и гистерезиса функции преобразования индуктивных измерительных преобразователей перемещения // Датчики и системы. 2016. № 11. С. 48-51.
- Статья Кожевников А. Ю., Юрин А. И. Нерешенные проблемы аттестации программного обеспечения средств измерений и измерительных систем, возникшие в связи с изменением нормативной базы // Мир измерений. 2016. № 3. С. 34-37.
- Статья Кожевников А. Ю., Юрин А. И. Особенности метрологического обеспечения автоматизированных комплексов параметрического контроля выпускаемой продукции // Законодательная и прикладная метрология. 2016. Т. 3. С. 25-28.
20157
- Статья Дмитриев А. В., Юрин А. И., Злодеев Г. Ю. Волоконно-оптический акселерометр // Датчики и системы. 2015. № 3. С. 33-35.
- Глава книги Юрин А. И., Злодеев Г. Ю. Измерение параметров вибрации с помощью бесконтактного волоконно-оптического датчика // В кн.: Инновации на основе информационных и коммуникационных технологий: Материалы международной научно-практической конференции (2015) / Отв. ред.: И. А. Иванов; под общ. ред.: С. У. Увайсов; науч. ред.: А. Н. Тихонов. М. : НИУ ВШЭ, 2015. С. 487-488.
- Глава книги Злодеев Г. Ю., Юрин А. И., Красивская М. И., Дмитриев А. В. Измерительная система с волоконно-оптическими датчиками // В кн.: Компьютерные измерительные технологии: Материалы I Международного симпозиума / Отв. ред.: И. А. Иванов; под общ. ред.: С. У. Увайсов; науч. ред.: А. Н. Тихонов. М. : ДМК Пресс, 2015. С. 66-70.
- Глава книги Юрин А. И. Измерительная система с резонаторным датчиком // В кн.: Компьютерные измерительные технологии: Материалы I Международного симпозиума / Отв. ред.: И. А. Иванов; под общ. ред.: С. У. Увайсов; науч. ред.: А. Н. Тихонов. М. : ДМК Пресс, 2015. С. 225-228.
- Статья Кокин Н. Н., Увайсов С. У., Юрин А. И. Основы выбора оптимального уровня детализации моделей тепловых процессов на основе лучистого теплообмена в радиоэлектронной аппаратуре космических аппаратов // Качество. Инновации. Образование. 2015. № 1. С. 48-57.
- Статья Ветров В. А., Львов Б. Г., Юрин А. И. Оценка технико-экономической целесообразности использования изобретений в сложных технических системах // Качество. Инновации. Образование. 2015. № 6. С. 3-9.
- Статья Юрин А. И., Красивская М. И., Дмитриев А. В. Проблемы подготовки специалистов в области метрологии наноиндустрии // Качество. Инновации. Образование. 2015. № 3. С. 19-22.
20145
- Статья Yurin A.I., Kartsev E.A., Dmitriev A.V. Methods of Correcting the Additional Temperature Error of Resonator Sensors // Measurement Techniques. 2014. Vol. 56. No. 12. P. 1323-1326. doi
- Статья Дмитриев А. В., Юрин А. И., Красивская М. И. Волоконно-оптический датчик виброускорений // Приборы. 2014. № 2. С. 7-9.
- Статья Юрин А. И., Неборский А. Ю., Карцев Е. А., Кокин Н. Н. Минимизация температурной погрешности индуктивных измерительных преобразователей // Приборы. 2014. № 10. С. 47-51.
- Статья Артемьев Б. Г., Взоров В. И., Дмитриев А. В., Красивская М. И., Юрин А. И. О научном и техническом понятии величины // Главный метролог. 2014. № 2. С. 31-34.
- Статья Юрин А. И., Красивская М. И., Дмитриев А. В., Злодеев Г. Ю. Применение виртуальных лабораторных стендов в образовательном процессе // Информационные технологии. 2014. № 6. С. 70-72.
20138
- Статья Дмитриев А. В., Красивская М. И., Юрин А. И. Исследование волоконно-оптических датчиков с внешней модуляцией // Датчики и системы. 2013. № 5. С. 34-37.
- Книга Юрин А. И., Карцев Е. А., Неборский А. Ю. Исследование индуктивного преобразователя перемещений. М. : РИО МИЭМ НИУ ВШЭ, 2013.
- Книга Юрин А. И., Карцев Е. А., Злодеев Г. Ю. Исследование тензорезисторных преобразователей. М. : РИО МИЭМ НИУ ВШЭ, 2013.
- Книга Юрин А. И., Карцев Е. А., Красивская М. И. Методические указания по проведению научно-исследовательского семинара. М. : РИО МИЭМ НИУ ВШЭ, 2013.
- Статья Юрин А. И., Карцев Е. А., Дмитриев А. В. Методы коррекции дополнительной температурной погрешности резонаторных датчиков // Метрология. Ежемесячное приложение к научно-техническому журналу «Измерительная техника». 2013. № 11. С. 15-20.
- Статья Юрин А. И., Карцев Е. А., Неборский А. Ю. Оптимизация метрологических характеристик индуктивных измерительных преобразователей // Приборы. 2013. № 10. С. 5-8.
- Статья Карцев Е. А., Климантович А. А., Юрин А. И. Разработка методики выбора оптимального средства измерений из числа альтернативных // Датчики и системы. 2013. № 5. С. 24-29.
20124
- Статья Юрин А. И., Филимонов В. В., Карцев Е. А. Контроль толщины нанопокрытий // Датчики и системы. 2012. № 1. С. 60-65.
- Книга Карцев Е. А., Красивская М. И., Юрин А. И. Методические указания к выполнению дипломных работ и проектов для студентов специальности 200501 «Метрология и метрологическое обеспечение». М. : Московский государственный институт электроники и математики, 2012.
- Книга Карцев Е. А., Красивская М. И., Юрин А. И. Методические указания к выполнению дипломных работ и проектов для студентов специальности 220501 «Управление качеством». М. : Московский государственный институт электроники и математики, 2012.
- Книга Карцев Е. А., Юрин А. И. Основы нанометрологии. М. : Московский государственный институт электроники и математики, 2012.
20114
- Книга Юрин А. И., Злодеев Г. Ю., Клименков А. В. Исследование температурного коэффициента электрического сопротивления резисторов. М. : Московский государственный институт электроники и математики, 2011.
- Книга Юрин А. И., Клименков А. В., Злодеев Г. Ю. Мостовые методы измерений. М. : Московский государственный институт электроники и математики, 2011.
- Книга Артемьев Б. Г., Юрин А. И. Основы сертификации. М. : Московский государственный институт электроники и математики, 2011.
- Книга Артемьев Б. Г., Юрин А. И. Основы стандартизации. М. : Московский государственный институт электроники и математики, 2011.
20101
Опыт работы
Московский институт электроники математики НИУ ВШЭ
январь 2015 – наст. вр. |
Доцент департамента электронной инженерии, академический руководитель магистерской программы «Инжиниринг в электронике» |
август 2012 – декабрь 2014 |
Доцент, зам. декана факультета электроники и телекоммуникаций, зам. зав. кафедры «Микросистемная техника, материаловедение и технологии» |
Московский государственный институт электроники и математики (технический университет)
октябрь 2011 – июль 2012 |
Доцент, зам. зав. кафедры «Метрология и сертификация» |
июнь 2009 – сентябрь 2011 |
Доцент кафедры «Метрология и сертификация» |
октябрь 2002 – май 2009 |
Ассистент кафедры «Метрология и сертификация» |
март 2002 – сентябрь 2002 |
Инженер кафедры «Метрология и сертификация» |
Информация*
- Общий стаж: 17 лет
- Научно-педагогический стаж: 17 лет
- Преподавательский стаж: 17 лет
Исследовательские проекты
· Разработка и апробация виртуального устройства, имитирующего работу реального измерительного оборудования нанотехнологий (2012-2013) – исполнитель
MIEM Holds ‘Electronics, Photonics and the Internet of Things’ Summer School
Over three days, the participants learnt about the main subject areas of the master's programmes of the HSE School of Electronic Engineering. About three dozen undergraduate students and graduates from different Russian universities took part in the summer school. Leading MIEM teachers and visiting lecturers from Russian companies were among those who spoke about promising areas of development in electronics, photonics, quantum technologies and the Internet of Things (IoT).
В МИЭМ прошла летняя школа «Электроника, фотоника и интернет вещей»
В течение трех дней ее участникам были представлены главные предметные области магистерских программ департамента электронной инженерии НИУ ВШЭ. Всего в работе летней школы приняли участие около трех десятков студентов и выпускников бакалавриата из разных вузов страны. В числе докладчиков школы были как ведущие преподаватели МИЭМ, так и приглашенные сотрудники профильных российских компаний. Они рассказали о перспективных направлениях развития электроники, фотоники, квантовых технологий и интернета вещей (IoT).
Результаты конкурса на формирование проектных групп
В МИЭМ НИУ ВШЭ ежегодно проводится конкурс факультетов на формирование проектных групп для всех работников и обучающихся НИУ ВШЭ (Москва).
В МИЭМ прошла III летняя школа «Электроника, наноэлектроника и интернет вещей»
В работе школы приняли участие около 30 студентов и выпускников бакалавриата. В числе докладчиков школы были как ведущие преподаватели МИЭМ НИУ ВШЭ, так и приглашенные сотрудники профильных российских компаний.
Семинар научного руководителя МИЭМ НИУ ВШЭ
Очередной семинар состоялся 16 апреля в режиме онлайн.
Руководитель семинара: Крук Евгений Аврамович, Научный руководитель, и.о. директора МИЭМ НИУ ВШЭ.
Секретарь семинара: Хриткин Сергей Анатольевич, Академический директор Аспирантской школы по техническим наукам.
На семинаре были представлены доклады по материалам диссертационных исследований, выполняемых аспирантами МИЭМ.
Дни открытых дверей магистерских образовательных программ
21 марта в МИЭМ НИУ ВШЭ состоялся день открытых дверей магистерских образовательных программ: «Математические методы моделирования и компьютерные технологии», «Суперкомпьютерное моделирование в науке и инженерии», «Системы управления и обработки информации в инженерии», а также ранее – «Инжиниринг в электронике»
В МИЭМ состоялся конкурс коротких докладов
27 апреля прошел третий конкурс коротких докладов, организованный аспирантской школой МИЭМ НИУ ВШЭ по техническим наукам.
День открытых дверей магистратуры МИЭМ НИУ ВШЭ
27 апреля МИЭМ НИУ ВШЭ гостеприимно открыл свои двери всем желающим познакомиться с магистратурой. Участники смогли узнать необходимую информацию о правилах приема, особенностях поступления и вступительных испытаний по конкретным образовательным программам, пообщаться с руководством института и академическими руководителями.
«Настоящий ученый должен уметь за три минуты объяснить, чем он занимается»
27 апреля в зале ученого совета состоится ставший уже традиционным конкурс коротких докладов, организуемый аспирантской школой МИЭМ НИУ ВШЭ. В преддверии события мы побеседовали о конкурсе с его идейным вдохновителем и главным организатором доцентом Департамента компьютерной инженерии, академическим руководителем Аспирантской школы по техническим наукам доцентом Клышинским Эдуардом Станиславовичем.
Зимняя инженерно-техническая школа МИЭМ НИУ ВШЭ
Завершила свою работу зимняя инженерно-техническая школа МИЭМ НИУ ВШЭ для абитуриентов магистратуры, проходившая в Учебном центре НИУ ВШЭ «Вороново» с 4 по 8 февраля 2016 года с участием преподавателей департамента.