Крутиков Владимир Николаевич

Заведующий кафедрой, Профессор:Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова / Базовая кафедра Всероссийского научно-исследовательского института оптико-физических измерений (ВНИИОФИ)

Начал работать в НИУ ВШЭ в 2013 году.
Научно-педагогический стаж: 15 лет.

Образование, учёные степени и учёные звания

2005
Доктор технических наук
1999
Ученое звание: Доцент
1976
Кандидат физико-математических наук
1970
Специалитет: Московский физико-технический институт, специальность «Радиофизика и электроника»

Профессиональные интересы

90.00.00 Метрология

Достижения и поощрения

Благодарность Высшей школы экономики (ноябрь 2016)

Выпускные квалификационные работы студентов

Магистратура
Мартыненко И. А. «Разработка технологии изготовления многощелочного фотокатода для времяанализирующего электронно-оптического преобразователя». Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова, 2017
Шамилев Р. А. «Разработка высоковольтной субнаносекундной полеобразующей системы на основе ТЕМ-ячейки с расщепленным потенциальным электродом». Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова, 2016
Александров А. В. «Разработка и исследование вторичного эталона единиц напряженностей импульсных электрического и магнитного полей с длительностью фронта импульсов до 20 пс». Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова, 2016
Солодилова М. А. «Исследование метрологических характеристик Государственного спектрофотометрического эталона с целью расширения его калибровочных и функциональных возможностей». Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова, 2016

Полный список ВКР

Учебные курсы (2018/2019 уч. год)

Государственный междисциплинарный экзамен по направлению подготовки (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 4-й курс, 4 модуль)Рус
Научно-исследовательский семинар "Инжиниринг в электронике" (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; программа "Инжиниринг в электронике"; 2-й курс, 1, 2 модуль)Рус
Проектно-исследовательский семинар (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; программа "Инжиниринг в электронике")Рус
Архив учебных курсов

Учебные курсы (2017/2018 уч. год)

Государственный междисциплинарный экзамен по направлению подготовки (Бакалавриат; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 4-й курс, 4 модуль)Рус
Защита выпускной квалификационной работы (магистерской диссертации) (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; 2-й курс, 4 модуль)Рус
Научно-исследовательский семинар "Инжиниринг в электронике" (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; программа "Инжиниринг в электронике"; 1-й курс, 1-4 модуль)Рус
Научно-исследовательский семинар "Инжиниринг в электронике" (Магистратура; где читается: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова; программа "Инжиниринг в электронике"; 2-й курс, 1, 2 модуль)Рус

Учебные курсы (2013/2014 уч. год)

Измерительные технологии наноиндустрии (Магистратура; где читается: Факультет электроники и телекоммуникаций; 1-й курс, 1-4 модуль)Рус
Междисциплинарная курсовая работа (Магистратура; где читается: Факультет электроники и телекоммуникаций; 1-й курс, 2-4 модуль)Рус

Публикации¹⁴

Статья Крутиков В. Н., Хатырев Н., Щербина А. Метод измерения временных интервалов корреляционных функций последовательности фемтосекундных лазерных импульсов // Измерительная техника. 2017. № 2. С. 32-35.
Статья Крутиков В. Н. Метрологическое обеспечение качества продукции. часть 2. состояние метрологического обеспечения в здравоохранении // Контроль качества продукции. 2017. № 6. С. 23-28.
Статья Магницкий С., Фроловцев Д., Агапов Д., Демин А., Крутиков В. Н. Метрология одиночных фотонов для квантовых информационных технологий // Измерительная техника. 2017. № 3. С. 24-29.
Статья Golubev S., Krutikov V.N., Ivanov V., Zolotarevsky Yu.M. Improvement of the standards base for optophysical measurements // Измерительная техника. 2016. Т. 58. № 11. С. 1189-1194.
Статья Zolotarevsky Yu.M., Korolev I., Krutikov V.N. Metrological support of measurements of the frequency of radiation in optical data processing systems // Измерительная техника. 2016. Т. 58. № 11. С. 1205-1209.
Статья Anevskii S., Zolotarevsky Yu.M., Ivanov V., Krutikov V.N. Spectroradiometry of ultraviolet radiation // Измерительная техника. 2016. Т. 58. № 11. С. 1216-1222.
Статья Крутиков В. Н. Метрологическое обеспечение качества продукции. Часть 1. Основные проблемы // Контроль качества продукции. 2016. № 9. С. 5-11.
Глава книги Tikhonov А. N., Lvov B. G., Petrosyants K. O., Uvaysov S. U., Kharitonov I. A., Balakin Staniclav, Chetyrkin A., Krutikov V.N. The System of Microelectronics Education for Aerospace Industry Based on “University-Enterprise” Link, in: Proceedings of the Tenth Workshop on Microelectronics Education (EWME 2014 ) Vol. 1. Tallinn : Tallinn University of Technology, 2014. Ch. S04-02. P. S04-02-0027-S04-02-0035.
Статья Крутиков В. Н., Золотаревский Ю. М., Лясковский В. Л. Высокодобротные оптические микрорезонаторы с модами типа шепчущей галереи и их применение в прецизионных измерениях // Метрология. Ежемесячное приложение к научно-техническому журналу «Измерительная техника». 2014. № 12. С. 22-40.
Статья Окрепилов В., Крутиков В. Н. Экономическая составляющая в обеспечении единства измерений // Измерительная техника. 2014. № 2. С. 3-8.
Статья Новиков Ю., Летуновский М., Булыгин Ф. В., Крутиков В. Н. IV Всероссийская научно-практическая конференция “Нормативно-правовое регулирование в области обеспечения единства измерений” // Мир измерений. 2013. № 5. С. 47-50.
Статья Золотаревский Ю. М., Крутиков В. Н. Optimization of the parameters of a standard source of synchrotron radiation with strong magnetic field for calibration of ultraviolet plasma radiators and integral radiometer-dosimeters // Измерительная техника. 2013. Т. 55. № 12. С. 1356-1363.
Статья Кононогов С. А., Золотаревский С., Булыгин Ф. В., Крутиков В. Н. Ареальные методы анализа топографии и текстуры поверхности в микронанометровом диапазонах // Метрология. Ежемесячное приложение к научно-техническому журналу «Измерительная техника». 2013. № 2. С. 13-24.
Статья Булыгин Ф. В., Крутиков В. Н. Эталонные источники малоуровневого оптического излучения на основе нанотехнологий // Измерительная техника. 2013. № 1. С. 30-33.

Деятельность

Директор ФГУП ВНИИОФИ
Главный редактор журналов «Измерительная техника» и «Метрология»
Президент региональной метрологической организации COOMET

Дополнительная информация

Лауреат Премии Правительства Российской Федерации в области науки и техники
Академик метрологической академии РФ

Расписание занятий на сегодня

Полное расписание

сен

2017

Добро пожаловать в студенческую семью

Вновь МИЭМ НИУ ВШЭ приветствовал своих первокурсников, которые стали полноправными членами нашей большой студенческой семьи. По этому поводу 1 сентября 2017 года было организовано торжественное праздничное мероприятие под открытым небом перед зданием института.

сен

2016

Добро пожаловать, первокурсник

1 сентября 2016 года, МИЭМ НИУ ВШЭ приветствовал своих первокурсников, которые стали полноправными членами нашей большой студенческой семьи. По этому поводу было организовано торжественное праздничное мероприятие под открытым небом перед зданием института.

сен

2015

Выставка «Импортозамещение - 2015»

С 14 по 17 сентября 2015 г. в МВЦ «Крокус-ЭКСПО» проходила крупная международная специализированная выставка «Импортозамещение - 2015». Высокий статус выставки подтвердил визит на выставку представительной делегации во главе с Председателем Правительства РФ Д.А. Медведевым.