Адаптация математической модели для оценки надежности современных интегральных микросхем на примере микросхем производства АО "ПКК Миландр"

Данная выпускная квалификационная работа – результат научно-исследовательской деятельности по адаптации и разработке математической модели расчета интенсивности отказов современных интегральных микросхем на базе уточненной методики справочника ВВС США – RADC-TR-89-177, разработка программы автоматизированного расчета интенсивности отказов и расчет интенсивности отказов современных интегральных микросхем производства АО «ПКК Миландр». Целью данной работы является получение расчетных значений интенсивностей отказов интегральных микросхем памяти и микроконтроллера производства АО «ПКК Миландр». Данная работа включает в себя разделы анализа рынка интегральных микросхем, сравнения существующих методик расчета интенсивностей отказов микросхем, адаптации и создания математической модели на основе RADC-TR-89-177, расчета и сравнительного анализ полученных результатов расчета по уже существующим и адаптированной методикам.