• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Метод создания безразрядных полупроводниковых приборов космической электроники в полимерных корпусахDevelopment of discharge-free semiconductor devices with plastic cases for the spacecraft electronics

Соискатель:
Афанасьева Маргарита Александровна
Члены комитета:
Пожидаев Евгений Димитриевич (Московский институт электроники и математики им. А.Н.Тихонова ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики», д.т.н., председатель комитета), Кечиев Леонид Николаевич (Московский институт электроники и математики им. А.Н.Тихонова ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики», д.т.н., член комитета), Кузнецов Вадим Вадимович (X-FAB Silicon Foundries Dresden GmbH&Co, KG, Германия, к.т.н., член комитета), Новиков Лев Симонович (Научно-исследовательский институт ядерной физики имени Д.В. Скобельцына ФГАОУ ВО «Московского государственного университета им. М.В. Ломоносова», д. ф.-м. н., член комитета), Самбурский Лев Михайлович (Московский институт электроники и математики им. А.Н.Тихонова ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики», к.т.н., член комитета)
Диссертация принята к предварительному рассмотрению:
7/3/2020
Диссертация принята к защите:
7/14/2020 (Протокол №12)
Дисс. совет:
Совет по инженерным наукам и прикладной математике
Дата защиты:
10/22/2020
Диссертационное исследование посвящено исследованию закономерности процессов накопления объемного заряда в пластиковых корпусах полупроводниковых приборов бортовой электроники космических аппаратов в результате воздействия на них околоземной плазмы разработке и разработке метода создания безразрядных полупроводниковых приборов космической электроники в полимерных корпусах. Проведены экспериментально-расчетные работы для определения коэффициента усиления поля на ребрах и вершинах кристалла чипа полупроводникового прибора. На основе этих работ реализована инженерная методика для определения величины электрической проводимости пластика корпуса чипа, при которой исключается физическая возможность возникновения электростатических разрядов типа «объем пластика полимерного корпуса – кристалл чипа». На основе выполненных исследований сформулировано и обосновано третье критериальное число, которое определяется максимально возможным электрическим полем на границе раздела «пластик корпуса – чип».
Диссертация [*.pdf, 1.66 Мб] (дата размещения 8/20/2020)
Резюме [*.pdf, 326.02 Кб] (дата размещения 8/20/2020)
Summary [*.pdf, 154.70 Кб] (дата размещения 8/20/2020)

Отзывы
Отзыв научного руководителя
Сведения о результатах защиты:
Комитет по диссертации рекомендовал присудить учёную степень кандидата технических наук (протокол № 2 от 22.10.2020г.). Решением диссертационного совета (протокол № 15 от 28 октября 2020г.) присуждена ученая степень кандидата технических наук.