Магистратура
2019/2020
Измерение и контроль параметров электронных компонентов и средств
Статус:
Курс по выбору (Инжиниринг в электронике)
Направление:
11.04.04. Электроника и наноэлектроника
Кто читает:
Департамент электронной инженерии
Когда читается:
2-й курс, 1, 2 модуль
Формат изучения:
без онлайн-курса
Прогр. обучения:
Инжиниринг в электронике
Язык:
русский
Кредиты:
6
Контактные часы:
70
Программа дисциплины
Аннотация
Настоящая программа учебной дисциплины устанавливает минимальные требования к знаниям и умениям студента и определяет содержание и виды учебных занятий и отчетности. Программа предназначена для преподавателей, ведущих данную дисциплину, учебных ассистентов и студентов направления подготовки 11.04.04 «Электроника и наноэлектроника», обучающихся по магистерской программе «Инжиниринг в электронике».
Цель освоения дисциплины
- Целью изучения дисциплины «Измерение и контроль параметров электронных компонентов и средств» является теоретическая и практическая подготовка студентов к решению организационных, научных и технических задач при выполнении измерений электрических характеристик микроэлектронных приборов и элементов БИС.
- обучение студентов использованию системного подхода к проведению измерения электрических характеристик микроэлектронных приборов и элементов БИС
- преподавание студентам особенностей современной методологии и техники измерения электрических характеристик микроэлектронных приборов и элементов БИС, аналоговых и цифровых микросхем.
- формирование способности обоснованного выбора плана проведения измерений, оценки и планирования точности измерений
- приобретение навыков работы с автоматизированными измерительными средствами, освоении методов обработки экспериментальных данных
- овладение современными знаниями в области построения и использования ма-тематических моделей полупроводниковых приборов и элементов БИС
Планируемые результаты обучения
- Знает о современных методах и средствах измерений электронных компонентов и полупроводниковых материалов.
- Способен организовать и проводить экспериментальные исследования на основе информационно-измерительных комплексов с применением современных средств и методов
- Способен применять цифровые генераторы сигналов и измерительные приборы для проведения эксперимента с обеспечением необходимой точности измерений.
- Способен оценивать и модифицировать освоенные методы и способы профессиональной деятельности
- Способен организовать и провести измерения полупроводниковых приборов и интегральных микросхем, провести обработку результатов измерений электронных компонентов
- Способен разработать измерительную систему и провести автоматизацию процесса измерения электронных компонентов.
- Способен к самостоятельному освоению новых методов исследования, изменению научного и научно-производственного профиля своей деятельности и непрерывному повышению квалификации в течении всего периода профессиональной деятельности.
- Способен применять физико-математический аппарат для разработки методик и проведения теоретических и экспериментальных исследований изделий электронной техники, интерпретировать и представлять их результаты.
- Способен использовать глубокие естественнонаучные и математические знания для постановки научно-исследовательских задач и выявления научной проблематики в электронике и наноэлектронике.
- Способен к поиску и синтезу новых конкурентоспособных технических решений изделий электронной техники и технологий их производства для достижения лидирующих позиций на рынке.
- Способен организовать и провести измерения электронных компонентов при влиянии температурных и радиационных факторов
- Знает: - методы статистической обработки информации. - математическое описание систем для проведения исследований; - результаты освоения фундаментальных и прикладных достижений мировой науки;
- Знает: - состояние научно-технической проблемы в рамках методик измерений; - задачи и цели проектирования и его этапов, для подготовки технических заданий на выполнение проектов электронных средств - проблемы в своей предметной области, выбирать методы и средства их решения; - состояние научно-технической проблемы в области измерений параметров и характеристик электронных компонентов и средств.
- Знает: - методики измерения электрических параметров и характеристик электронных компонентов и средств; - принципы работы электронных компонентов и средств; - проектно-конструкторскую документацию в области электронных компонентов и средств в соответствии с методическими и нормативными требованиями. - физические принципы работы электронных компонентов и средств; - методы обработки результатов измерений параметров электронных компонентов и средств;
- Умеет: - выполнять теоретические и экспериментальные исследования с использованием современных программных комплексов; - применять математически методы для решения задач прикладного характера; - применять методы статистической обработки информации; - анализировать состояние научно-технической проблемы; - определять цели, осуществлять постановку задач проектирования; - подготавливать технические задания на выполнение проектов электронных средств;
- Умеет: - определять цели, подготавливать технические задания для решения практических задач научного и экспериментального плана; - самостоятельно осуществлять постановку задачи исследования, формирование плана реализации исследования, выбор методов исследования и обработку результатов; - использовать результаты научно-исследовательской деятельности в производстве и учебном процессе. - разрабатывать методики выполнения измерений параметров и характеристик электронных компонентов и средств;
- Владеет: - методами подбора, изучения и анализа литературных и патентных источников; - методиками постановки цели, определения способов ее достижения. - навыками использования математических методов при решении практических задач; - навыками статистической обработки информации. - навыками постановки задач исследования, формирования плана реализации исследования, выбора методов исследования.
- Владеет: - навыками управления средствами измерений характеристик электронных компонентов и средств; - навыками обработки результатов измерений параметров электронных компонентов и средств, их интерпретации и представления; - методологией теоретических и экспериментальных исследований электронных компонентов, устройств и систем. - методами подбора, изучения и анализа патентных источников;
Содержание учебной дисциплины
- Общая характеристика методов и средств измерений. Измерительные задачи. Нормирование метрологических характеристикОписание методов измерений и средств измерений, таких как мультиметры, осциллографы, характериографы, анализаторы спектра, измерители S-параметров и др., методик обработки результатов измерений. Описание планирования и постановки эксперимента. Обеспечения необходимых уровней точности и минимизации погрешности
- Цифровые генераторы сигналов и измерительные приборы.Описание принципов работы цифровых генераторов сигналов и цифровых измерительных приборов. Описание основных характеристик и параметров, условий функционирования для обеспечения минимальных погрешностей. Описание функциональных возможностей генераторов и измерительных приборов.
- Подготовка и проведение измерений. Обработка результатов измерений.Описание основных этапов подготовки эксперимента и проведения измерений. Описание основных проблем и ошибок при планировании эксперимента. Подробное описание методов обработки результатов измерений.
- Автоматизация измерений. Аппаратура для автоматизированных измеренийОписание принципов и основных критериев автоматизации измерений. Описание создания измерительной системы. Основные цели и задачи автоматизации измерений.
- Методы измерения параметров и характеристик полупроводниковых приборов и микросхем. Измерение параметров аналоговых и цифровых микросхем. Определение параметров схемотехнических моделей компонентов.Описание методов измерений параметров и характеристик полупроводниковых материалов(пластин), дискретных приборов (диоды, биполярные и полевые транзисторы) и интегральных микросхем (операционные усилители, логические микросхемы, ОСУ, СОЗУ, МК, МП и т.п). Описание схемотехнических моделей компонентов, а также методик экстракции их параметров по результатам измерений.
- Особенности измерения параметров и характеристик полупроводниковых приборов и микросхем с учётом ра-диационных и температурных факторов. Идентификации параметров их схемотехнических моделей с учётом радиационных и температурных факторовОписание особенностей проведения измерений полупроводниковых приборов и интегральных схем при низких (криогенных) и высоких температурах, при воздействии проникающей радиации. Описание методов создания схемотехнических моделей полупроводниковых компонентов учитывающих радиационные и температурные факторы. Описание методик экстракции их параметров.
Элементы контроля
- Лабораторные работы
- ЭкзаменДанная дисциплина обеспечивает формирование следующих компетенций согласно ОрОС: ПК-1, ПК-2, ПК-11, УК-1, ОПК-3, ОПК-6
Промежуточная аттестация
- Промежуточная аттестация (1 модуль)0.25 * Домашнее задание + 0.25 * Лабораторные работы + 0.5 * Экзамен
- Промежуточная аттестация (2 модуль)0.25 * Домашнее задание + 0.25 * Лабораторные работы + 0.5 * Экзамен
Список литературы
Рекомендуемая основная литература
- Измерительные приборы и массовые электронные измерения, Афонский, А. А., 2007
Рекомендуемая дополнительная литература
- Метрология и технические измерения, Миронов, Э. Г., 2015
- Обшая теория измерений : учеб. пособие для студентов вузов, Анцыферов, С. С., 2007