Исследование спектральной чувствительности однофотонного отклика сверхпроводниковых полосок микронной ширины

ФИО студента: Юдин Алексей Николаевич

Руководитель: Корнеев Александр Александрович

Кампус/факультет: Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова

Программа: Материалы. Приборы. Нанотехнологии (Магистратура)

Оценка: 8

Год защиты: 2020

В работе представлены анализ современных методов численного моделирования и экспериментальных исследований сверхпроводниковых однофотонных детекторов на основании полосок тонких плёнок микронной ширины. Основное внимание уделено наиболее проработанным и в высокой степени верифицированным экспериментально вихревым моделям, демонстрирующим вычислительно-эффективное предсказание точек перегиба семейств функций квантовой эффективности от тока смещения в зависимости от внешнего магнитного поля.

Текст работы (работа добавлена 17 мая 2020 г.)

Выпускные квалификационные работы (ВКР) в НИУ ВШЭ выполняют все студенты в соответствии с университетским Положением и Правилами, определенными каждой образовательной программой.

Аннотации всех ВКР в обязательном порядке публикуются в свободном доступе на корпоративном портале НИУ ВШЭ.

Полный текст ВКР размещается в свободном доступе на портале НИУ ВШЭ только при наличии согласия студента – автора (правообладателя) работы либо, в случае выполнения работы коллективом студентов, при наличии согласия всех соавторов (правообладателей) работы. ВКР после размещения на портале НИУ ВШЭ приобретает статус электронной публикации.

ВКР являются объектами авторских прав, на их использование распространяются ограничения, предусмотренные законодательством Российской Федерации об интеллектуальной собственности.

В случае использования ВКР, в том числе путем цитирования, указание имени автора и источника заимствования обязательно.

Реестр дипломов НИУ ВШЭ