Казанцев Дмитрий Всеволодович
- Профессор:Факультет физики
- Начал работать в НИУ ВШЭ в 2020 году.
- Научно-педагогический стаж: 27 лет.
Образование, учёные степени
- 2007Доктор физико-математических наук: специальность 01.04.05 Оптика, тема диссертации: Ближнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP
- 1996Кандидат физико-математических наук: специальность 01.04.01 Экспериментальная техника, физика приборов, автоматизация физических исследований
- 1984
Специалитет: Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, специальность «Физика», квалификация «физик»
Дополнительное образование / Повышение квалификации / Стажировки
03.02.2020 - 17.02.2020
Теория и методика высшего образования (72 часа)
Удостоверение 772406730189
Институт повышения квалификации и дополнительного образования МГРИ
-------------------------------------------
03.02.2020 - 17.02.2020
Автоматизация управления учебным процессом в ВУЗе (72 часа)
Удостоверение 772406730298
Институт повышения квалификации и дополнительного образования МГРИ
-------------------------------------------
03.02.2020 - 17.02.2020
Технология обучения студентов с ОВЗ (72 часа)
Удостоверение 772406730373
Институт повышения квалификации и дополнительного образования МГРИ
Учебные курсы (2021/2022 уч. год)
- Электронные методы в физических исследованиях (Бакалавриат; где читается: Факультет физики; 3-й курс, 3 модуль)Рус
- Архив учебных курсов
Учебные курсы (2020/2021 уч. год)
Публикации10
- Статья Казанцев Д. В. Scattering type apertureless scaning near-field optical microscopy // Успехи физических наук. 2024. С. 001-057. doi
- Статья D. V. Kazantsev, Klekovkin A. V., Minaev I. I., Kazantseva E. A., Nikolaev S. N. An Apertureless Scanning Near-Field Optical Microscope Probe with a Lateral Resolution of 10 – 15 nm Observed with a Semiconductor Structure // Journal of Russian Laser Research. 2023. Vol. 44. No. 6. P. 656-662. doi
- Статья Казанцев Д. В., Казанцева Е. Цифровое детектирование оптического сигнала в микроскопе ближнего оптического поля // Приборы и техника эксперимента. 2022. № 2. С. 79-98. doi
- Глава книги Казанцев Д. В. Ближнепольная инфракрасная микроскопия-спектроскопия // В кн.: Современная инфракрасная спектроскопия: основные принципы, методы и приборная база. М. : Физический факультет МГУ, 2021. С. 315-364.
- Книга Ефимова А., Болдырев Н., Зайцев В., Казанцев Д. В. Современная инфракрасная спектроскопия: основные принципы, методы и приборная база. М. : Физический факультет МГУ, 2021.
- Статья D. Kazantsev, Ryssel H. ASNOM mapping of SiC epilayer doping profile and of surface phonon polariton waveguiding // Journal of Applied Physics. 2020. Vol. 127. No. 12. Article 123103. doi
- Статья Казанцев Д. В., Казанцева Е. Предусилитель для CdHgTe-фотодетектора // Приборы и техника эксперимента. 2020. № 1. С. 144-150. doi
- Статья Казанцев Д. В., Казанцева Е. Усиление локального электромагнитного поля над планарными "частицами" на поверхности полярного кристалла // Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики. 2018. Т. 107. № 7-8 . С. 532-536. doi
- Статья Казанцев Д. В., Кузнецов Е., Тимофеев С., Шелаев А., Казанцева Е. Безапертурная микроскопия ближнего оптического поля / Перев.: Д. В. Казанцев // Успехи физических наук. 2017. Т. 3. С. 277-295. doi
- Статья Казанцев Д. В., Казанцева Е., Кузнецов Е., Поляков В., Тимофеев С., Шелаев А. Сканирующий безапертурный микроскоп ближнего оптического поля - прибор для исследования оптических свойств поверхности с нанометровым разрешением // Известия РАН. Серия физическая. 2017. Т. 81. № 12. С. 1709-1714. doi
Гранты
КИАС 19-05-50145 Микромир
Оптические методы обнаружения наноразмерных объектов в пищевых добавках на основе микропорошков SiO2 и TiO2 способных проникать через клеточные барьеры и вызывать онкологические заболевания
КИАС 18-29-20122 мк
Гибридный ИК-детектор с квантовыми ямами на основе локализованных решеточных резонансов
Опыт работы
05.2010-10.2013
08.2009-04.2010
DFG Project KA3105 “Characterization of the structured materials for the semiconductor technology with an apertureless SNOM”. Соавтор и со-руководитель проекта (совместно с Х.Русселем)
Кафедра электронных элементов (LEB), Университет Эрлангена-Нюрнберга, Германия
Senior scientist
Институт прикладной оптики, группа нанооптики проф. Т.Пертча,
Университет Иены, Германия
01.08-01.09 Visiting Professor
Школа современных оптических технологий, (SAOT), университет Эрлангена-Нюрнберга, Германия
04.04-07.05 Postdoctoral researcher
Группа нанофотоники Р.Хилленбранда,
Институт биохимии общества Макса Планка, Мартинсрид(Мюнхен), Германия.
09.00-04.04 Postdoctoral researcher
Немецкий федеральный центр метрологии PTB (Physikalisch-Technische Bundesanstalt), Брауншвейг, Германия.
1994-1998
– Приглашенный ученый
Ежегодные визиты на 2-3 месяца
Лаборатория проф. А.Форхеля, кафедра технической физики,
Университет Вюрцбурга, Германия.
1998 Приглашенный ученый
Группа проф. Д.Гершони, Институт твердого тела, Технион, Хайфа, Израиль
1984-1996 Младший научный сотрудник,
Физический институт АН СССР им. П.Н.Лебедева, Москва
1991-1998 Руководитель проекта «разработка экспериментальных приборов». Центр перспективных тенологий Унитех (малое предприятие в рамках технопарка МГУ). Разработка контроллера STM/AFM для серийного производства (запущен в серию и продан). Разработка управляющего программного обеспечения на языке C++, техническая поддержка пользователей
1990 Разработка электроники и микропрограммного обеспечения (i8080) для микропроцессорного прибора, предназначенного для сбора и автоматизированного размещения в кассете образцов крови по различным алгоритмам. Прибор был изготовлен и продан заказчику (б-ца им. Кащенко, Москва).
Информация*
- Общий стаж: 27 лет
- Научно-педагогический стаж: 27 лет
На факультете физики состоялся день открытых дверей
8 апреля факультет физики распахнул свои двери для школьников, студентов и их родителей