• A
  • A
  • A
  • АБВ
  • АБВ
  • АБВ
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Тема «профессора»

Семинар «Физика низкоразмерных квантовых систем»

9 ноября 2017 в МИЭМ НИУ ВШЭ состоялся очередной семинар научно-учебной группы «Физика низкоразмерных квантовых систем» под руководством профессора К.Ю. Арутюнова. С докладом на тему «Физика гибридных структур нормальный металл - сверхпроводник: эффект близости и эффект Джозефсона» выступил профессор университета Твенте (Энсхеде, Нидерланды) д.ф.-м.н. Александр Авраамович Голубов.

Аналитические и вычислительные методы в теории вероятностей и её приложениях

С 23 по 27 октября 2017 года в Москве прошла международная конференция «Аналитические и вычислительные методы в теории вероятностей и её приложениях — АВМТВ-2017». В работе конференции приняли участие сотрудники департамента прикладной математики МИЭМ НИУ ВШЭ.

Новый учебник и практикум ординарного профессора НИУ ВШЭ Каштанова В.А.

Виктор Алексеевич Каштанов, ординарный профессор НИУ ВШЭ, профессор департамента прикладной математики МИЭМ НИУ ВШЭ написал в соавторстве с доцентом департамента прикладной математики Энатской Наталией Юрьевной новый учебник и практикум «Случайные процессы», на основе читаемого авторами на протяжении многих лет курса, прошедшего практическую апробацию и предназначенного для прикладного бакалавриата.

Новая книга профессора Кечиева Л.Н. «Печатные платы и узлы гигабитной электроники»

Вышла в свет новая книга профессора департамента электронной инженерии МИЭМ НИУ ВШЭ Кечиева Л.Н. «Печатные платы и узлы гигабитной электроники». В книге рассматриваются вопросы конструирования печатных плат и печатных узлов для систем гигабитного быстродействия.

Математическое искусство МИЭМ НИУ ВШЭ на международной выставке Heimtextil

Международная выставка домашнего текстиля и тканей для оформления интерьера Heimtextil Russia прошла в Москве в конце сентября. В рамках выставки профессор департамента компьютерной инженерии МИЭМ НИУ ВШЭ Надежда Трубочкина представила образцы своего математического (фрактального) искусства в области дизайна тканей и интерьеров.

Международная российско-китайская конференция CRCNAA 2017

С 28.08.2017 по 30.08.2017 в МИЭМ НИУ ВШЭ прошла Шестая Международная Китайско-Российская конференция по Численной Алгебре и приложениям (The Sixth China-Russia Conference on Numerical Algebra with Applications (CRCNAA 2017)). В ее работе приняло участие более 80 ученых, исследователей, аспирантов и студентов.

Расширяем рамки международного научно-исследовательского сотрудничества

МИЭМ НИУ ВШЭ победил в конкурсе Министерства образования и науки Российской Федерации на предоставление субсидий в целях реализации федеральной целевой программы «Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития научно-технологического комплекса России на 2014-2020 годы».

«Электронный нос» - новый патент МИЭМ НИУ ВШЭ

Лаборатория космических исследований в области технологий, систем и процессов получила Патент №171691 на полезную модель «Малогабаритное устройство «электронный нос» для распознавания образа запаха широкого класса химических веществ».

Признан победителем без предупреждения

Мы поздравили Григория Наумовича Гольцмана, доктора физико-математических наук, профессора, заведующего базовой кафедрой квантовой оптики и телекоммуникаций ЗАО «Сконтел» магистерской программы «Материалы. Приборы. Нанотехнологии» МИЭМ НИУ ВШЭ, который первым из граждан России получил престижную международную премию Института инженеров электротехники и электроники — IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers) за многолетние и значимые работы в области прикладной сверхпроводимости (Continuing and Significant Contributions in the Field of Applied Superconductivity). Предлагаем вашему вниманию интервью с лауреатом.

Международная конференция по надежности микро- и наноэлектронных приборов – 2017

С 22 по 25 мая 2017 года в китайской «Кремниевой долине», в городе Чэнду – столице провинции Сычуань состоялась крупная международная конференция по надежности микро- и наноэлектронных приборов – 2017 International Workshop on Reliability of Micro-and Nano-Electronic Devices in Harsh Environment (May 22-24, 2017, Chengdu, China). Конференция собрала свыше 200 участников из США, России, Китая, Германии, Франции, Великобритании, Канады, Бельгии, Австрии.